[实用新型]大功率的横向结构LED芯片无效
申请号: | 201020168042.3 | 申请日: | 2010-04-23 |
公开(公告)号: | CN201796941U | 公开(公告)日: | 2011-04-13 |
发明(设计)人: | 彭晖 | 申请(专利权)人: | 金芃;彭晖 |
主分类号: | H01L33/36 | 分类号: | H01L33/36 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100871 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 大功率 横向 结构 led 芯片 | ||
1.一种大功率的横向结构LED芯片,包括:生长衬底、半导体外延层、透明电极、钝化层、电极;其中,所述的半导体外延层包括,N-类型限制层、活化层、P-类型限制层;其中,所述的N-类型限制层形成在所述的生长衬底上,所述的活化层形成在所述的N-类型限制层上,所述的P-类型限制层形成在所述的活化层上;所述的透明电极形成在所述的P-类型限制层上;所述的半导体外延层的预定的位置上形成至少一个半导体外延层半通槽,所述的半导体外延层半通槽穿过所述的透明电极、所述的P-类型限制层和所述的活化层,所述的半导体外延层半通槽的底部是所述的N-类型限制层;所述的钝化层形成在所述的透明电极上并且覆盖所述的半导体外延层半通槽的侧面和底面;在所述的钝化层的覆盖所述的半导体外延层半通槽的底面的部分的预定的位置上形成至少一个N-半通槽,使得所述的N-类型限制层在所述的N-半通槽中暴露;在所述的钝化层的预定的位置上形成至少一个P-半通槽,所述的P-半通槽穿过所述的钝化层,所述的P-半通槽的底部是所述的透明电极,使得所述的透明电极在所述的P-半通槽中暴露;所述的电极包括,至少一个N-打线焊盘、至少一个P-打线焊盘、至少一个N-非有效条形电极、至少一个N-混合条形电极;至少一个P-非有效条形电极、至少一个P-混合条形电极;所述的N-打线焊盘和所述的P-打线焊盘分别形成在所述的钝化层预定的位置上;所述的N-非有效条形电极和所述的P-非有效条形电极分别形成在所述的钝化层预定的位置上;所述的N-混合条形电极包括N-有效电极部分和N-非有效电极部分,所述的N-非有效电极部分形成在所述的钝化层上,所述的N-有效电极部分形成在所述的N-半通槽中的暴露的N-类型限制层上;所述的P-混合条形电极包括P-有效电极部分和P-非有效电极部分,所述的P-非有效电极部分形成在所述的钝化层上,所述的P-有效电极部分形成在所述的P-半通槽的底部的暴露的透明电极上。
2.权利要求1的横向结构LED芯片,其特征在于,多个所述的N-有效电极部分基本互相平行。
3.权利要求1的横向结构LED芯片,其特征在于,多个所述的P-有效电极部分基本互相平行。
4.权利要求1的横向结构LED芯片,其特征在于,相邻的所述的N-有效电极部分和所述的P-有效电极部分基本互相平行。
5.权利要求1的横向结构LED芯片,其特征在于,所述的半导体外延层和所述的透明电极之间形成反射层;所述的反射层的位置、形状和尺寸分别与所述的N-打线焊盘和P-打线焊盘相对应。
6.权利要求1的横向结构LED芯片,其特征在于,所述的钝化层和所述的透明电极之间形成反射层;所述的反射层的位置、形状和尺寸分别与所述的N-打线焊盘和P-打线焊盘相对应。
7.权利要求1的横向结构LED芯片,其特征在于,所述的半导体外延层和所述的透明电极之间形成反射层;所述的反射层的位置、形状与尺寸分别与所述的N-非有效条形电极和P-非有效条形电极相对应。
8.权利要求1的横向结构LED芯片,其特征在于,所述的钝化层和所述的透明电极之间形成反射层;所述的反射层的位置、形状与尺寸分别与所述的N-非有效条形电极和P-非有效条形电极相对应。
9.权利要求1的横向结构LED芯片,其特征在于,所述的半导体外延层和所述的透明电极之间形成反射层;所述的反射层的位置、形状与尺寸分别与所述的N-非有效电极部分和所述的P-非有效电极部分相对应。
10.权利要求1的横向结构LED芯片,其特征在于,所述的钝化层和所述的透明电极之间形成反射层;所述的反射层的位置、形状与尺寸分别与所述的N-非有效电极部分和所述的P-非有效电极部分相对应。
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