[实用新型]晶片外观检测设备

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种外观检测机，特别是涉及一种晶片外观检测设备。

背景技术

随着石英晶体行业的飞速发展，产品类型也越来越趋于小型化，目前对石英晶片的外观检测处于人工用肉眼进行直接观测或用放大镜进行观测。由于存在主观因素，每个人的检验标准会有所不同。且随着产品的小型化，人工肉眼观测难度越来越大，因此人工检测已经不能满足市场及工艺加工的要求。

发明内容

本实用新型的目的在于克服已有技术的不足，提供一种可以对散装石英晶片进行自动识别、检测的晶片外观检测设备。

本实用新型的晶片外观检测设备，它包括底板、安装在所述的底板上的供料组件、视觉检测组件和收料组件，所述的供料组件包括供料相机、供料吸头和散料盘，所述的供料相机、供料吸头和散料盘分别通过与其相连的第一、二、三水平驱动装置各自能够沿水平方向往复移动，所述的供料相机、供料吸头的运动方向彼此平行并且与所述的散料盘的运动方向垂直设置，所述的供料相机和供料吸头能够移动至所述的散料盘的正上方；所述的视觉检测组件包括其上开有进料孔的进料板，所述进料板设置在透明载盘顶面和供料吸头之间，所述的供料吸头通过所述的第二水平驱动装置能够对准所述的进料板的进料孔设置，第一检测相机和第三检测相机设置在透明载盘的上方并且第二检测相机设置在其下方，每一所述的检测相机以及进料孔的中心位于以透明载盘旋转中心为圆心的同一圆周上，所述的透明载盘通过连接在其中轴上的旋转驱动装置的驱动能够在水平面内做旋转运动；所述收料组件包括其输出轴上连接有毛刷的不良品收料马达、设置在所述的透明载盘上方的良品吸头和设置在透明载盘下方的良品盒以及不良品盒，所述的良品吸头通过与其相连的第四水平驱动装置能够沿水平方向移动至良品盒以及透明载盘的正上方，所述的毛刷设置在透明载盘的正上方并且与所述的不良品盒相对设置，供料吸头和良品吸头的气孔分别与真空负压装置相连，一个上位机的信号输入端与供料相机以及第一至第三检测相机相连并且其信号输出端与第一至第四水平驱动装置、旋转驱动装置以及不良品收料马达的信号输入端相连相连以控制其正、反转、停止。

本实用新型的有益效果和优点在于：采用透明载盘实现不用对晶片的翻转即可实现对晶片的上下表面进行检测，减少了由于翻转造成对晶片的损坏及污染，且采用统一模板检测方式降低了由于人工检测造成的标准不一致；采用自动化检测方式，且本装置能够实现连续检测，提高了生产效率，保证了产品质量。

附图说明

图1是本实用新型的晶片外观检测设备的总体结构示意图；

图2是图1所示的供料组件结构示意图；

图3是图1所示的视觉检测组件结构示意图；

图4是图1所示的收料组件结构示意图；

图5是图4所述的收料组件的正视图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本实用新型进行详细描述。