[发明专利]X射线荧光定量检测时仪器漂移的校正方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种射线测量分析设备漂移的实时补偿技术，尤其是涉及一种X射线荧光定量检测时仪器漂移的校正方法及装置。

背景技术

矿物加工过程中，通常用X荧光分析仪对矿浆品位进行在线检测，仪器在运行中，随着时间的推移及周围环境因数的不断变化，其运行状态也在逐渐地变化，仪器的短期波动或漂移及仪器的长期漂移都会引起荧光光谱分析的测量精度。短期的稳定性是由环境温度、大气压、交流电网、X光管电源、探测器的波动与漂移所引起。仪器的长期漂移则由于仪器元器件老化所引起，其中包括X光管电源输出电压随着电阻及其他元件的老化，光管靶面可能出现斑痕及金属升华物积淀到窗口内表面，导致射线输出强度下降，衍射晶体反射效率降低，探测器量子效率下降等等。

现有技术中，对X荧光分析仪漂移的校正方法，一般是根据经验，当仪器运行一段时间后，对仪器进行回零校正。

上述现有技术至少存在以下缺点：

难以自动、实时的补偿仪器测量精度上的漂移，仪器的稳定性能和测量精度较低。

发明内容

本发明的目的是提供一种能够自动、实时补偿仪器测量精度上的漂移，提高仪器的稳定性能和测量精度的X射线荧光定量检测时仪器漂移的校正方法。

本发明的目的是通过以下技术方案实现的：

本发明的X射线荧光定量检测时仪器漂移的校正方法，包括步骤：

首先，按照待测金属元素及其含量制备参比样品，并用X荧光分析仪多次测量所述参比样品中的待测金属元素的脉冲计数率；

然后，取多次测量的参比样品中的待测金属元素的脉冲计数率的平均值作为原始目标强度值；

之后，在所述X荧光分析仪每次测量待测样品前，首先测量一次所述参比样品，并将该次测量的待测金属元素的脉冲计数率与所述原始目标强度值进行比较，将比较的结果作为本次测量的修正系数；

最后，测量待测样品，并用所述修正系数对本次测量待测样品的结果进行修正。

本发明的实现上述的X射线荧光定量检测时仪器漂移的校正方法的装置，包括X光管，所述X光管的前方设有样品盒，所述X光管与样品盒之间设有参比样品，所述参比样品能够移出或移入所述X光管与样品盒之间。

由上述本发明提供的技术方案可以看出，本发明所述的X射线荧光定量检测时仪器漂移的校正方法及装置，由于在X光管与测量样品盒之间，设置一个受仪器控制的参比机构；按待测金属元素压制成的参比样品安装在该机构上；使用X荧光分析仪测量参比样品，得到参比样的脉冲计数率作为原始目标强度值。X荧光分析仪在线运行测量时，每次测量矿浆样本之前都要测量一次参比样的计数率，并将此计数率与参比样原始目标强度的比值作为标准化系数，利用计算的标准化系数对每次测量的矿浆样本的脉冲计数率加以修正，得到在线矿浆的标准脉冲计数率。能够自动、实时补偿仪器因长期或短期带来的性能指标上的漂移，提高仪器的稳定性能和测量精度指标。

附图说明

图1为本发明X射线荧光定量检测时仪器漂移的校正方法具体实施例的流程图；

图2为本发明实现X射线荧光定量检测时仪器漂移的校正方法的装置具体实施例的结构示意图。

具体实施方式

本发明的X射线荧光定量检测时仪器漂移的校正方法，其较佳的具体实施方式如图1所示，包括步骤：

首先，按照待测金属元素及其含量制备参比样品，并用X荧光分析仪多次测量所述参比样品中的待测金属元素的脉冲计数率；

然后，取多次测量的参比样品中的待测金属元素的脉冲计数率的平均值作为原始目标强度值；

之后，在所述X荧光分析仪每次测量待测样品前，首先测量一次所述参比样品，并将该次测量的待测金属元素的脉冲计数率与所述原始目标强度值进行比较，将比较的结果作为本次测量的修正系数；

最后，测量待测样品，并用所述修正系数对本次测量待测样品的结果进行修正。

本发明的实现上述的X射线荧光定量检测时仪器漂移的校正方法的装置，其较佳的具体实施方式如图2所示：

包括X光管，所述X光管的前方设有样品盒，所述X光管与样品盒之间设有参比样品，所述参比样品能够移出或移入所述X光管与样品盒之间。

所述参比样品可以固定在参比机构上，所述参比机构可以驱动所述参比样品移出或移入所述X光管与样品盒之间。