[发明专利]X射线荧光定量检测时仪器漂移的校正方法及装置

权利要求书

1.一种X射线荧光定量检测时仪器漂移的校正方法，其特征在于，包括步骤：

首先，按照待测金属元素及其含量制备参比样品，并用X荧光分析仪多次测量所述参比样品中的待测金属元素的脉冲计数率；

然后，取多次测量的参比样品中的待测金属元素的脉冲计数率的平均值作为原始目标强度值；

之后，在所述X荧光分析仪每次测量待测样品前，首先测量一次所述参比样品，并将该次测量的待测金属元素的脉冲计数率与所述原始目标强度值进行比较，将比较的结果作为本次测量的修正系数；

最后，测量待测样品，并用所述修正系数对本次测量待测样品的结果进行修正。

2.一种实现权利要求1所述的X射线荧光定量检测时仪器漂移的校正方法的装置，包括X光管，所述X光管的前方设有样品盒，其特征在于，所述X光管与样品盒之间设有参比样品，所述参比样品能够移出或移入所述X光管与样品盒之间。

3.根据权利要求2所述的实现X射线荧光定量检测时仪器漂移的校正方法的装置，其特征在于，所述参比样品固定在参比机构上，所述参比机构驱动所述参比样品移出或移入所述X光管与样品盒之间。