[发明专利]一种消除环境杂散光干扰的吸收光谱测量方法

说明书

技术领域

本发明涉及对吸收光谱的测量，特别涉及一种消除环境杂散光干扰的吸收光谱测量方法，可以快捷地、高精度地测量溶液或物质的吸收光谱。

背景技术

测量溶液或物质的吸收光谱是分析其成份或结构最常用的方法，但在测量过程中环境杂散光会形成对吸收光谱的干扰，因而常规的测量是在仪器封闭的测量小室中进行，因而对测量条件和环境要求较高，不便于在野外或一些特殊条件下进行测量。

发明内容

为了避免环境杂散光的干扰，扩大应用范围，快捷地、高精度地测量溶液或物质的吸收光谱，本发明提供了一种消除环境杂散光干扰的吸收光谱测量方法，所述方法包括以下步骤：

(1)光源发出的光束经过斩波器，按照第一预设频率对光进行调制，获取调制后的光；

(2)所述调制后的光照射到样品皿上，获取透过所述样品皿的光束；

(3)所述光束进入第一光纤传至光谱仪；

(4)所述光谱仪在计算机的控制下以第二预设频率对所述光束进行连续采样，得到被测物体表面的吸收光谱序列S_i，其中，i的取值为正整数；

(5)在所述计算机中，按照时间顺序将所述吸收光谱序列S_i中同一波长对应的数据进行排序，获取各个波长的光强序列；

(6)在所述计算机中，对所述各个波长的光强序列进行傅立叶变换，获取最大谐波分量其中，j的取值为正整数；

(7)在所述计算机中，按照各个波长顺序将所述最大谐波分量进行排序，获取吸收光谱。

步骤(2)中的所述调制后的光照射到样品皿上，获取透过所述样品皿的光束，具体为：

所述调制后的光通过狭缝照射到所述样品皿上，获取透过所述样品皿的光束。

步骤(2)中的所述调制后的光照射到样品皿上，获取透过所述样品皿的光束，具体为：

所述调制后的光通过第二光纤照射到所述样品皿上，获取透过所述样品皿的光束。

所述第二光纤具体为：导光光纤。

步骤(4)中所述第二预设频率具体为：高于所述第一预设频率n倍，其中，n的取值为大于2的正整数。

所述最大谐波分量具体为：多数波长幅值最大的相同谐波分量。

本发明提供的技术方案的有益效果是：

本发明提供了一种消除环境杂散光干扰的吸收光谱测量方法，该方法获取到了排除环境杂散光干扰的吸收光谱，避免了环境杂散光的干扰，扩大了应用范围，实现了快捷地、高精度地测量溶液或物质的吸收光谱；并且，该消除环境杂散光干扰的吸收光谱测量方法可以应用到医疗领域、环保领域以及其他相关的领域。

附图说明

图1为本发明提供的结构示意图；

图2为本发明提供的另一结构示意图；

图3为本发明提供的消除环境杂散光干扰的吸收光谱测量方法的流程图。

附图中各标号所代表的部件列表如下：

1：光源                2：斩波器

3：狭缝                4：样品皿

5：第一光纤            6：光谱仪

7：计算机              8：第二光纤

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。

为了避免环境杂散光的干扰，扩大应用范围，快捷地、高精度地测量溶液或物质的吸收光谱，本发明实施例提供了一种消除环境杂散光干扰的吸收光谱测量方法，参见图1、图2和图3，详见下文描述：

101：光源1发出的光束经过斩波器2，按照第一预设频率对光进行调制，获取调制后的光；

其中，第一预设频率的取值根据实际应用中的需要进行设定，具体实现时，本发明实施例对此不做限制。

102：调制后的光照射到样品皿4上，获取透过样品皿4的光束；

103：光束进入第一光纤5传至光谱仪6；

104：光谱仪6在计算机7的控制下以第二预设频率对光束进行连续采样，得到被测物体表面的吸收光谱序列S_i；

其中，第二预设频率具体为：高于第一预设频率n倍，n的取值为大于2的正整数，n的取值可以根据实际应用中的需要进行设定，具体实现时，本发明实施例对此不做限制。其中i的取值为正整数。

105：在计算机7中，按照时间顺序将吸收光谱序列S_i中同一波长对应的数据进行排序，获取各个波长的光强序列；

106：在计算机7中，对各个波长的光强序列进行傅立叶变换，获取最大谐波分量