[发明专利]一种消除环境杂散光干扰的吸收光谱测量方法

权利要求书

1.一种消除环境杂散光干扰的吸收光谱测量方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

(1)光源发出的光束经过斩波器，按照第一预设频率对光进行调制，获取调制后的光；

(2)所述调制后的光照射到样品皿上，获取透过所述样品皿的光束；

(3)所述光束进入第一光纤传至光谱仪；

(4)所述光谱仪在计算机的控制下以第二预设频率对所述光束进行连续采样，得到被测物体表面的吸收光谱序列S_i，其中，i的取值为正整数；

(5)在所述计算机中，按照时间顺序将所述吸收光谱序列S_i中同一波长对应的数据进行排序，获取各个波长的光强序列；

(6)在所述计算机中，对所述各个波长的光强序列进行傅立叶变换，获取最大谐波分量其中，j的取值为正整数；

(7)在所述计算机中，按照各个波长顺序将所述最大谐波分量进行排序，获取吸收光谱。

2.根据权利要求1所述的消除环境杂散光干扰的吸收光谱测量方法，其特征在于，步骤(2)中的所述调制后的光照射到样品皿上，获取透过所述样品皿的光束，具体为：

所述调制后的光通过狭缝照射到所述样品皿上，获取透过所述样品皿的光束。

3.根据权利要求1所述的消除环境杂散光干扰的吸收光谱测量方法，其特征在于，步骤(2)中的所述调制后的光照射到样品皿上，获取透过所述样品皿的光束，具体为：

所述调制后的光通过第二光纤照射到所述样品皿上，获取透过所述样品皿的光束。

4.根据权利要求3所述的消除环境杂散光干扰的吸收光谱测量方法，其特征在于，所述第二光纤具体为：导光光纤。

5.根据权利要求1所述的消除环境杂散光干扰的吸收光谱测量方法，其特征在于，步骤(4)中所述第二预设频率具体为：高于所述第一预设频率n倍，其中，n的取值为大于2的正整数。

6.根据权利要求1所述的消除环境杂散光干扰的吸收光谱测量方法，其特征在于，所述最大谐波分量具体为：多数波长幅值最大的相同谐波分量。