[发明专利]薄片类介质检测装置及薄片类介质处理装置在审

专利信息
申请号: 201010594606.4 申请日: 2010-12-16
公开(公告)号: CN102122000A 公开(公告)日: 2011-07-13
发明(设计)人: 郑磊;姜天信;杨民;刘洋 申请(专利权)人: 山东新北洋信息技术股份有限公司
主分类号: G01V8/22 分类号: G01V8/22
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 吴贵明
地址: 264209 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 薄片 介质 检测 装置 处理
【权利要求书】:

1.一种薄片类介质检测装置,其特征在于,包括:

导光条,设置在介质输送通道的一侧,具有沿长度方向间隔排列的多个反光面,各所述反光面将导光条内的光线反射至所述介质输送通道另一侧;

多个光接收器,各所述光接收器在所述介质输送通道的另一侧与所述导光条的一反光面相对设置;以及

点光源,至少设置在所述导光条的长度方向的一端侧,其中,各所述反光面相对于所述点光源一侧的导光条呈钝角倾斜设置。

2.根据权利要求1所述的薄片类介质检测装置,其特征在于,所述导光条的两端侧分别设有点光源,相应地,各所述反光面与其临近的点光源一侧的导光条呈钝角倾斜设置。

3.根据权利要求1所述的薄片类介质检测装置,其特征在于,所述反光面与所述点光源一侧的导光条呈120~150°夹角。

4.根据权利要求1所述的薄片类介质检测装置,其特征在于,所述反光面由所述导光条内的切割槽形成,所述切割槽的起始点位于所述导光板的远离所述介质输送通道的一侧。

5.根据权利要求4所述的薄片类介质检测装置,其特征在于,各所述反光面对应的切割槽的切割深度随着各所述反光面到所述点光源的距离增大而加深。

6.根据权利要求1所述的薄片类介质检测装置,其特征在于,所述导光条的长度与所述介质输送通道的宽度相适配。

7.根据权利要求1所述的薄片类介质检测装置,其特征在于,所述导光条的面对所述点光源的一端侧具有凹坑,所述凹坑形成凹弧形曲面。

8.根据权利要求1所述的薄片类介质检测装置,其特征在于,所述导光条由若干段导光短条组成,所述反光面由相邻两导光短条的结合面形成。

9.根据权利要求1所述的薄片类介质检测装置,其特征在于,各所述反光面的长度随着所述反光面到点光源的距离增大而加长。

10.一种薄片类介质处理装置,包括在介质输送通道上设置的介质输送机构和处理机构,其特征在于,还包括至少一根据权利要求1至9中任一项所述的薄片类介质检测装置。

11.根据权利要求9所述的薄片类介质处理装置,其特征在于,所述至少一薄片类介质检测装置中的一薄片类介质检测装置位于在所述介质输送通道的入口处,用于检测介质是否存在。

12.根据权利要求9所述的薄片类介质处理装置,其特征在于,还包括在所述介质输送通道上设置的对齐介质的对齐挡板,所述至少一薄片类介质检测装置中的一薄片类介质检测装置位于所述对齐挡板上游,用于检测介质是否对齐。

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