[发明专利]一种双荧光质粒、基于其的活细胞内DNA错配修复功能活性的分析方法及其应用无效
申请号: | 201010586301.9 | 申请日: | 2010-12-08 |
公开(公告)号: | CN102121027A | 公开(公告)日: | 2011-07-13 |
发明(设计)人: | 董巧香;黄长江;陈元红;任湘鹏;白承连;葛红山 | 申请(专利权)人: | 温州医学院 |
主分类号: | C12N15/65 | 分类号: | C12N15/65;C12Q1/68 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 吴贵明 |
地址: | 325035 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 荧光 质粒 基于 细胞内 dna 修复 功能 活性 分析 方法 及其 应用 | ||
1.一种双荧光质粒,携带有EGFP和RFP基因,其特征在于,
所述EGFP和RFP基因位于同一开放阅读框。
2.一种基于双荧光质粒检测活细胞内DNA错配修复功能活性的分析方法,包括以下步骤:
(1)分别构建两个权利要求1所述的双荧光质粒P1和P2,其中所述质粒P1中的EGFP基因为正常表达,所述质粒P2中的EGFP基因具有无义突变;
(2)以所述质粒P1为材料制备单链DNA分子;
(3)基于所述质粒P1和P2,以及所述单链DNA分子,制得同源和异源核酸双链分子;
(4)将所述同源和异源核酸双链分子分别转染至所述活细胞,进行DNA错配修复功能活性分析。
3.根据权利要求2所述的分析方法,其特征在于,所述步骤(1)中采用双顺反子克隆技术使得所述EGFP基因和RFP基因位于同一阅读框中。
4.根据权利要求3所述的分析方法,其特征在于,所述双顺反子克隆技术包括以下步骤:
分别以pGEM-EGFP质粒和pGEM-(mt)EGFP质粒为模板,以具有SEQ No.1序列的上游引物和具有SEQ No.2序列的下游引物扩增EGFP基因;其中,所述pGEM-EGFP中的EGFP基因为正常表达,而pGEM-(mt)EGFP中的EGFP基因存在无义突变;
将扩增得到的所述正常表达的EGFP基因酶连入具有RFP基因的载体p IRES2-Dsred2制得所述双荧光质粒P1,将扩增得到的所述存在无义突变的EGFP基因酶连入具有RFP基因的载体p IRES2-Dsred2制得所述双荧光质粒P2。
5.根据权利要求3所述的分析方法,其特征在于,所述双顺反子克隆技术包括以下步骤:
以pIRES2-Dsred2质粒为模板,所述pIRES2-Dsred2质粒中含有RFP基因,以具有SEQ No.3序列的上游引物和具有SEQNo.4序列的下游引物扩增带有RFP的基因片段;
将扩增得到的所述带有RFP的基因片段分别酶连入pGEM-EGFP载体和pGEM-(mt)EGFP载体,其中,所述pGEM-EGFP中的EGFP基因为正常表达,而pGEM-(mt)EGFP中的EGFP基因存在无义突变,制得所述质粒P1和质粒P2。
6.根据权利要求2-5中任一项所述的分析方法,其特征在于,所述存在无义突变的EGFP基因是由正常表达的EGFP基因经具有SEQ No.5序列的第一引物和具有SEQ No.6序列的第二引物诱变PCR扩增制成。
7.根据权利要求6所述的分析方法,其特征在于,所述质粒P2中EGFP基因的第58三联密码子处具有无义突变。
8.根据权利要求2所述的分析方法,其特征在于,所述步骤(2)包括如下步骤:
以质粒P1为材料,使用缺刻酶形成带缺刻的开环质粒,然后使用核酸外切酶进行消化反应获得所述单链DNA分子。
9.根据权利要求2所述的分析方法,其特征在于,所述步骤(2)包括如下步骤:
以质粒P1为材料,使用辅助噬菌体M13ko7,通过侵染的方法获得高纯单链DNA分子。
10.权利要求1所述的双荧光质粒在制备用于检测活细胞内DNA错配修复功能活性试剂中的应用。
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