[发明专利]一种密封结构零件的检漏方法无效
| 申请号： | 201010583256.1 | 申请日： | 2010-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN102564709A | 公开（公告）日： | 2012-07-11 |
| 发明（设计）人： | 吴东旭;王祥 | 申请（专利权）人： | 中国航空工业集团公司第六三一研究所 |
| 主分类号： | G01M3/22 | 分类号： | G01M3/22 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 商宇科 |
| 地址： | 710068 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 密封 结构 零件 检漏 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种密封结构零件的检漏方法，其特征在于：所述方法包括以下步骤：
1)将待检零件接入氦质谱检漏仪；
2)对待检零件和氦质谱检漏仪抽真空；
3)对待检零件喷吹氦气；
4)根据氦质谱检漏仪输出仪表的指示情况对待检零件进行密封检验。
2.根据权利要求1所述的密封结构零件的检漏方法，其特征在于：所述氦质谱检漏仪在使用前将其抽至真空状态。
3.根据权利要求2所述的密封结构零件的检漏方法，其特征在于：所述步骤4)中氦质谱检漏仪输出仪表的指示情况是中质谱检漏仪输出仪表是否进行偏转。
4.根据权利要求1或2或3所述的密封结构零件的检漏方法，其特征在于：所述步骤4)中对待检零件进行密封检验的标准是：
判断氦质谱检漏仪输出仪表是否有指示，若有指示，则待检零件被喷吹氦气的部位密封不严；若没有指示，则待检零件被喷吹氦气的部位密封严实。
5.根据权利要求4所述的密封结构零件的检漏方法，其特征在于：所述质谱检漏仪输出仪表偏转的大小确定检出漏孔的漏率的大小。
6.根据权利要求1所述的密封结构零件的检漏方法，其特征在于：所述氦质谱检漏仪是采用检漏灵敏度不低于1.33×10-10Pa.L/s的氦质谱检漏仪。
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