[发明专利]设置寄存器初始状态的方法有效
| 申请号: | 201010575124.4 | 申请日: | 2010-12-06 |
| 公开(公告)号: | CN102486936A | 公开(公告)日: | 2012-06-06 |
| 发明(设计)人: | 朱瑶华 | 申请(专利权)人: | 上海华虹NEC电子有限公司 |
| 主分类号: | G11C16/20 | 分类号: | G11C16/20 |
| 代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 丁纪铁 |
| 地址: | 201206 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 设置 寄存器 初始 状态 方法 | ||
1.一种设置寄存器初始状态的方法,所述寄存器的初始状态总是由决定反相器组所决定的;所述决定反相器组为一对首尾相接的反相器,其中的每一个反相器都称为决定反相器;所述决定反相器组直接连接、或通过一个或多个中间反相器连接所述寄存器的数据输出端;所述方法为:
当要求所述寄存器在上电时的初始状态为低电平,且中间反相器为单数个,则要求所述决定反相器组在上电时的初始状态为高电平,则升高两个决定反相器和每个中间反相器的阈值电压;
当要求所述寄存器在上电时的初始状态为低电平,且没有中间反相器或中间反相器为偶数个,则要求所述决定反相器组在上电时的初始状态为低电平,则降低两个决定反相器和每个中间反相器的阈值电压;
当要求所述寄存器在上电时的初始状态为高电平,且中间反相器为单数个,则要求所述决定反相器组在上电时的初始状态为低电平,则降低两个决定反相器和每个中间反相器的阈值电压;
当要求所述寄存器在上电时的初始状态为高电平,且没有中间反相器或中间反相器为偶数个,则要求所述决定反相器组在上电时的初始状态为高电平,则升高两个决定反相器和每个中间反相器的阈值电压。
2.根据权利要求1所述的设置寄存器初始状态的方法,其特征是,所述决定反相器、中间反相器为不带时钟控制的反相器或带时钟控制的反相器。
3.根据权利要求1所述的设置寄存器初始状态的方法,其特征是,所述决定反相器、中间反相器均包括串联的一个PMOS晶体管和一个NMOS晶体管,这两个晶体管的栅极相连作为所述反相器的数据输入端,这两个晶体管的漏极相连作为所述反相器的数据输出端;升高所述反相器的阈值电压即降低所述反相器中的PMOS晶体管的沟道宽度长度比与所述反相器中的NMOS晶体管的沟道宽度长度比的比值,降低所述反相器的阈值电压即升高所述反相器中的PMOS晶体管的沟道宽度长度比与所述反相器中的NMOS晶体管的沟道宽度长度比的比值。
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