[发明专利]一种减少槽式去PSG设备产生水渍的方法无效
申请号: | 201010569384.0 | 申请日: | 2010-12-02 |
公开(公告)号: | CN102082204A | 公开(公告)日: | 2011-06-01 |
发明(设计)人: | 韩帅君;李向前;张明坤;张永伟;景彦娇;张玉磊 | 申请(专利权)人: | 上海超日(洛阳)太阳能有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 洛阳市凯旋专利事务所 41112 | 代理人: | 陆君 |
地址: | 471900*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 减少 槽式去 psg 设备 产生 水渍 方法 | ||
【技术领域】
本发明涉及太阳能电池硅片加工领域,尤其是涉及一种减少槽式去PSG设备产生水渍的方法。
【背景技术】
公知的,太阳能电池的制作流程一般为清洗制绒——扩散制结——边缘刻蚀——去磷硅玻璃——PECVD镀膜——丝网印刷——烧结——测试;在这些工序中,扩散制结工序对太阳能电池的效率起有比较重要的作用,因此扩散制结属于一道重要的工序;扩散过程中发生的反应如下: 4POCl3+5O2→P2O5+6Cl2,即由POCl3分解产生的P2O5淀积在硅片表面,再使其与Si反应生成SiO2和磷原子:2P2O5+5Si→5SiO2+4P,这样就在硅片表面形成一层含有磷元素的SiO2,通称为磷硅玻璃,简称PSG;由于通过扩散在硅片表面形成的PSG严重阻碍后续的工艺,影响电池片的效率,因此必须对扩散后形成的PSG进行去除;
目前,常规的去PSG设备采用槽式去PSG隧道烘干设备,一般的流程为:HF酸浸泡——纯水冲洗——热水预脱水——烘干;在这个过程中,由于热水预脱水不可能完全的将水脱干,而未完全脱干的水在烘干后的硅片表面不能够被发现,但这些水份会造成硅片在后道工序PECVD镀膜时形成的蓝色Si3N4膜表面产生白色痕迹,这种白色的痕迹一般称为水渍,对电池片的外观影响极大,因此需要对此类硅片进行返工;由于在返工时,需要将这些返工硅片表面形成的Si3N4膜去掉,因此严重影响了生产线的正常生产,同时返工硅片的存在也导致了成本的大量增加;
针对槽式去PSG设备采用热水慢提拉产生水渍的问题,现有的解决办法是放弃隧道烘干,而采用甩干机进行甩干;甩干机是利用硅片高速旋转时产生的离心力将表面残留的水去掉,与此同时,再采用密闭腔体内喷水、喷氮的方法来保证硅片的洁净度;这种方法虽然能较好的解决水渍问题,但是由于现在市场上槽式去PSG设备一般都采用烘干,如改用甩干机的话就需要额外单独购买相应的甩干设备,这就相当于进行了二次投资,增加了设备成本。
【发明内容】
为了克服背景技术中的不足,本发明提供了一种减少槽式去PSG设备产生水渍的方法,所述的方法在不增加设备投资的情况下,仅通过对现有工艺的改进,利用具有快速挥发性的无水乙醇代替热水进行脱水,从而有效的解决了去PSG产生水渍的问题。
为实现上述发明目的,本发明采用如下技术方案:
一种减少槽式去PSG设备产生水渍的方法,所述的方法采用如下步骤:
a. 将表面有PSG的硅片放到硅片承载盒;
b. 将装有硅片的承载盒放入D-1清洗液中清洗去除硅片表面的PSG;
c. 将硅片放入18MΩ的纯水中冲洗去除硅片表面粘附的D-1清洗液;
d. 将硅片放入无水乙醇中脱水3-5分钟;
e. 将脱水后的硅片放入烘箱烘干;
f. 对烘干后的硅片进行后道工序的生产。
所述的减少槽式去PSG设备产生水渍的方法,所述的D-1清洗液由氢氟酸:纯水按照1:10的体积比制成
所述的减少槽式去PSG设备产生水渍的方法,将装有硅片的承载盒放入D-1清洗液中清洗去除表面的PSG,时间为3-7分钟;
所述的减少槽式去PSG设备产生水渍的方法,将硅片放入18MΩ的纯水中冲洗去除硅片表面粘附的D-1清洗液,时间为5-15分钟;
所述的减少槽式去PSG设备产生水渍的方法,将脱水后的硅片放入烘箱烘干,时间为5-10分钟,烘箱温度为70-100度。
由于采用如上所述的技术方案,本发明具有如下有益效果:
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