[发明专利]纵波裂缝预测与剥层方法无效

专利信息
申请号: 201010567725.0 申请日: 2010-11-30
公开(公告)号: CN102478662A 公开(公告)日: 2012-05-30
发明(设计)人: 李向阳;狄帮让;王尚旭 申请(专利权)人: 中国石油天然气集团公司;中国石油大学(北京)
主分类号: G01V1/00 分类号: G01V1/00;G01V1/28;G01V1/36;E21B49/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 任默闻
地址: 100007 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 纵波 裂缝 预测 方法
【权利要求书】:

1.一种纵波裂缝预测与剥层方法,其特征在于,所述的方法包括:

输入地震数据;

对所述地震数据进行剥层处理;

获得单层TIH介质的AMR;

对所述单层TIH介质进行AMR交绘分析和TIH参数反演。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述的对所述地震数据进行剥层处理包括:利用各向同性射线追踪方法进行剥层和通过正常时差校正完成剥层。

3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述的利用各向同性射线追踪进行剥层包括:预处理过程和剥层循环过程。

4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述预处理过程包括:

在四条线的交点上找到相应的四个CDP道集,在每个道集上分别做速度分析,建立速度模型;

在未做动校正的CDP道集上进行旅行时拾取,建立所有介质层的旅行时表;

做各向同性的射线追踪,建立每一层介质的偏移距-射线段分量表;

对第一层介质进行如下计算:

Δt131(x)=line3(layer1)-line1(layer1)]]>

Δt142(x)=line4(layer1)-line4(layer1)]]>

完成交绘分析,利用单层的方法确定将和存在一张表中;

其中,line1、line2、line3、line4分别表示四条线;layer1表示第一层介质;表示第一层介质的裂缝方位角。

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