[发明专利]半导体装置和显示装置

说明书

技术领域

本技术领域涉及显示装置及其驱动方法。具体来说，本技术领域涉及包括光电传感器(photosensor，光传感器)的显示装置及其驱动方法。此外，本技术领域涉及半导体装置及其驱动方法。

背景技术

近年来，提供有接触传感器的显示装置已经引起重视。提供有接触传感器的显示装置称作触摸板、触摸屏等(以下简单地称作触摸板)。接触传感器的示例包括电阻触摸传感器、电容触摸传感器和光学触摸传感器，它们的工作原理是不同的。对于触摸传感器，可检测触摸显示装置的物体(例如笔和手指)。因此，用于控制显示装置的数据可通过使用触摸传感器作为输入装置来输入。另外，包括光学触摸传感器的显示装置也可用作接触区域传感器(例如专利文献1)。

此外，作为没有显示面板的装置的一个示例，可给出例如图像传感器等半导体装置。

[专利文献]

[专利文献1]日本已公开专利申请No.2001-292276

发明内容

包括光电传感器的这种显示装置的问题在于，当光电传感器上的入射光的强度过高或过低时，成像准确度降低。成像准确度降低，使得错误地识别所检测物体的位置，或者所得图像不清晰。具体来说，显示装置易于受到来自外部的光线(外部光)影响。

鉴于上述问题，一个目的是执行高清晰图像的成像，而不管入射光的强度。

显示装置的一个实施例包括像素中提供有光电传感器的显示面板，并且具有入射光由光电传感器来测量并且光电传感器的灵敏度(sensitivity)根据入射光而变化的功能。

备选地，显示装置的另一个示例包括在像素中提供有光电传感器的显示面板，并且具有下列功能：第一成像在光电传感器中执行，以便生成物体的图像，根据图像来测量光电传感器上的入射光，光电传感器的灵敏度按照入射光而变化，以及然后执行第二成像。

也就是说，在像素中提供的光电传感器具有测量入射光的功能以及对物体成像的功能。作为用于测量入射光的方法，图像的明度(亮度)可采用成像图像的浓度直方图来检测。

为了改变灵敏度，可调整施加到光电传感器的电压。

备选地，光电传感器包括晶体管以及电连接到晶体管的栅极的光电二极管，并且光电传感器的灵敏度可通过调整施加到光电二极管的电压来改变。

备选地，光电传感器的灵敏度可通过调整施加在晶体管的源极与漏极之间的电压来改变。

备选地，光电传感器具有执行复位操作、累积操作和选择操作的功能，并且光电传感器的灵敏度可通过调整累积操作的时间来改变。注意，累积操作是在复位操作中的初始化之后但在选择操作中的读取之前执行的操作。

备选地，显示装置可包括图像处理部分。当二值化过程在图像处理部分中执行时，成像的准确度可通过二值化的阈值的变化来调整。

备选地，显示装置的另一个实施例包括一种显示面板，其中设置了在像素中提供的第一光电传感器以及在像素外部提供的第二光电传感器。显示装置的实施例具有下列功能：由第二光电传感器测量入射光；以及在执行成像之前按照入射光来改变第一光电传感器的灵敏度。也就是说，在像素中提供的第一光电传感器具有对物体成像的功能，并且在像素外部提供的第二光电传感器具有测量入射光的功能。光电传感器的灵敏度按照与以上所述相同的方式来改变。

光电传感器的灵敏度通过入射光的强度来确定，使得始终可执行高清晰图像的成像。具体来说，光电传感器的灵敏度能够几乎不受外部光影响。

附图说明

图1是显示装置的结构的说明图。

图2是显示装置的结构的说明图。

图3是显示装置的结构的说明图。

图4是时序图。

图5是显示装置的结构的说明图。

图6是显示装置的结构的说明图。

图7是显示装置的截面的说明图。

图8是显示装置的截面的说明图。

图9是显示装置的截面的说明图。

图10是使用显示装置的电子装置的一个示例。

图11是显示装置的结构的说明图。

图12A至图12D是使用显示装置的电子装置的示例。

图13是直方图。

图14是直方图。

具体实施方式

下面将参照附图详细描述实施例。但是，以下所述的实施例可通过许多不同的模式来体现，并且本领域的技术人员易于理解，模式和细节可通过各种方式来修改，而没有背离本发明的精神和范围。因此，本发明不应当被解释为限于实施例的以下描述。在用于描述实施例的附图中，相同部分或者具有相似功能的部分由相同的参考标号来表示，并且不再重复描述这些部分。

(实施例1)