[发明专利]一种MEMS结构切割分离方法无效
申请号: | 201010534244.X | 申请日: | 2010-11-05 |
公开(公告)号: | CN102464296A | 公开(公告)日: | 2012-05-23 |
发明(设计)人: | 蒋美莲;朱明 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | B81C1/00 | 分类号: | B81C1/00 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅;李时云 |
地址: | 20120*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 mems 结构 切割 分离 方法 | ||
1.一种MEMS结构切割分离方法,所述MEMS结构依次包括正面覆盖层、机械层和背面覆盖层,其特征在于,包括以下步骤:
在切割承载盘上放置有粘膜;
在所述MEMS结构的正面覆盖层粘贴紫外膜,在所述MEMS结构的背面覆盖层上粘贴透明紫外膜;
将所述MEMS结构正面覆盖层向下、背面覆盖层向上放置于所述切割承载盘上的所述粘膜上,使所述MEMS结构的正面覆盖层粘附在所述粘膜上;
从所述背面覆盖层向下至所述正面覆盖层对所述MEMS结构进行切割,分离出单个的MEMS器件;切割时将所述正面覆盖层和所述背面覆盖层上的紫外膜切透,而将所述粘膜不切透;
对所述背面覆盖层上的紫外膜进行紫外照射从而去除该层紫外膜;
对切割形成的单个MEMS器件进行测试,将测试合格的单个MEMS器件同所述正面覆盖层上的紫外膜和所述粘膜相剥离。
2.如权利要求1所述的MEMS结构切割分离方法,其特征在于,所述粘膜为蓝膜、紫外膜。
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