[发明专利]一种MEMS结构切割分离方法无效

专利信息
申请号: 201010534244.X 申请日: 2010-11-05
公开(公告)号: CN102464296A 公开(公告)日: 2012-05-23
发明(设计)人: 蒋美莲;朱明 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 屈蘅;李时云
地址: 20120*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 mems 结构 切割 分离 方法
【权利要求书】:

1.一种MEMS结构切割分离方法,所述MEMS结构依次包括正面覆盖层、机械层和背面覆盖层,其特征在于,包括以下步骤:

在切割承载盘上放置有粘膜;

在所述MEMS结构的正面覆盖层粘贴紫外膜,在所述MEMS结构的背面覆盖层上粘贴透明紫外膜;

将所述MEMS结构正面覆盖层向下、背面覆盖层向上放置于所述切割承载盘上的所述粘膜上,使所述MEMS结构的正面覆盖层粘附在所述粘膜上;

从所述背面覆盖层向下至所述正面覆盖层对所述MEMS结构进行切割,分离出单个的MEMS器件;切割时将所述正面覆盖层和所述背面覆盖层上的紫外膜切透,而将所述粘膜不切透;

对所述背面覆盖层上的紫外膜进行紫外照射从而去除该层紫外膜;

对切割形成的单个MEMS器件进行测试,将测试合格的单个MEMS器件同所述正面覆盖层上的紫外膜和所述粘膜相剥离。

2.如权利要求1所述的MEMS结构切割分离方法,其特征在于,所述粘膜为蓝膜、紫外膜。

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