[发明专利]一种获取低孔渗储层测井饱和度的方法有效

专利信息
申请号: 201010524252.6 申请日: 2010-10-29
公开(公告)号: CN102454401A 公开(公告)日: 2012-05-16
发明(设计)人: 李浩;刘传喜;郑荣臣;冯琼 申请(专利权)人: 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院
主分类号: E21B49/00 分类号: E21B49/00;E21B47/00
代理公司: 北京思创毕升专利事务所 11218 代理人: 刘明华
地址: 100728 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 获取 低孔渗储层 测井 饱和度 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于油气田勘探开发领域,具体涉及一种获取低孔渗储层测井饱和度的方法。

背景技术

在油气田勘探开发中,利用阿尔奇公式求取储层含水饱和度,是判断储层流体性质,准确识别气层、气水同层、水层和干层的关键技术。阿尔奇公式为:

式中,a、b是与地层因素和电阻率增大率相关的系数;

m是胶结指数;

n是饱和度指数;

Rw是地层水电阻率;

φ是测井孔隙度;

Rt是地层真电阻率;

Sw是含水饱和度。

阿尔奇公式中包含m、a、n、和b多个待确定的解释参数,它们对应用阿尔奇公式的效果有十分重要的影响。

典型阿尔奇公式参数是基于中等孔隙度、渗透率砂岩实验获得的,一般而言,对于待定产层,阿尔奇公式的测井解释参数是相对固定的,但随着油气勘探开发中低孔渗储层所占比重的日益增加,近年来的研究日益发现,对于低孔渗复杂储层,阿尔奇公式参数是可变的,尤其是m值的变化范围比较大,因此阿尔奇公式参数的不适用性也日益显现。在应用阿尔奇公式计算低孔渗储层含水饱和度时,需根据目标区块地质特征来研究选取,主要是通过岩电实验数据进行地层因素和饱和度指数分析,建立储层的岩电关系,进而分析得出适合研究区和解释层段的解释参数。

阿尔奇公式中的m值(无量纲)是岩性和孔隙结构的综合反映,近年来的一些实验结果及理论研究成果表明,对于低孔渗储层,m值的变化对于油气层含水饱和度计算的影响最大。复杂岩性的m值不是固定值。研究具有可变m值的阿尔奇公式,对岩性或物质组成多变的火山岩测井解释具有技术合理性,但m值求取难又影响了该方法的实施。即使用实验分析相同岩性,由于孔隙结构的差异,其m值可能差别很大,因此采用标定多个岩心的方法求取m值,不仅成本高,方法也未必有效。

发明内容

本发明的目的在于解决上述现有技术中存在的难题,提供一种操作方便、结论可靠的获取低孔渗储层测井饱和度的方法。

本发明是通过以下技术方案实现的:一种获取低孔渗储层测井饱和度的方法,首先确定储层中对应不同电阻率的胶结指数m,然后建立电阻率与胶结指数m之间的函数关系,最后获得储层含气饱和度的近似解,进而实现对储层类型的准确判断。

所述方法包括:

(1)确定致密层的m值:设定电阻率大于2000欧姆米的火山岩储层含水饱和度为100%,将岩电实验求取的基础参数代入阿尔奇公式,反求该点的m值;

(2)确定各类干层的m值:设已测试干层及其他不同电阻率的干层含水饱和度为95%,运用与步骤(1)相同的方法反求与之对应的m值;

(3)确定气层的m值:应用岩电实验求取的较高孔隙度储层的m值;

(4)确定m值测井解释图版:将步骤(1)和步骤(2)中对应不同电阻率反求得到的m值与步骤(3)中的气层电阻率对应的m值制作成m值测井解释图版;

(5)确定储层流体性质:将通过m值测井解释图版求取的m值及岩电实验求取的基础参数代入阿尔奇公式中,求取储层含气饱和度的近似解,进而确定储层流体性质;

所述基础参数包括a、b和n,其中,a、b是与地层因素和电阻率增大率相关的系数,n是饱和度指数。

与现有技术相比,本发明的有益效果是:本发明利用测井曲线获取了m值的变化规律,解决了岩电实验所求m值变量难以指导生产应用的问题,解决了低孔渗储层中气层、气水同层和水层的测井识别问题,本发明可操作性强,研究结论准确可靠,提高了火山岩储层测井解释的符合率,在致密砂岩、碳酸盐岩和火成岩储层中都有较好的应用价值。

附图说明

图1是采用现有技术计算火山岩储层测井含水饱和度的效果图。

图2是采用本发明方法计算火山岩储层测井含水饱和度的效果图。

图3是本发明实施例中XX7井的测井解释图。

图4是本发明实施例中XX4井加深段的测井解释图。

图5是本发明实施例中XX3井的测井解释图。

图6是本发明实施例中XX9井的测井解释图。

图7是本发明实施例中的m值与电阻率变化关系图(即所述的m值测井解释图版)。

具体实施方式

下面结合附图对本发明作进一步详细描述。

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