[发明专利]一种获取低孔渗储层测井饱和度的方法有效

专利信息
申请号: 201010524252.6 申请日: 2010-10-29
公开(公告)号: CN102454401A 公开(公告)日: 2012-05-16
发明(设计)人: 李浩;刘传喜;郑荣臣;冯琼 申请(专利权)人: 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院
主分类号: E21B49/00 分类号: E21B49/00;E21B47/00
代理公司: 北京思创毕升专利事务所 11218 代理人: 刘明华
地址: 100728 北*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 获取 低孔渗储层 测井 饱和度 方法
【权利要求书】:

1.一种获取低孔渗储层测井饱和度的方法,其特征在于:所述方法首先确定储层中对应不同电阻率的胶结指数m,然后建立电阻率与胶结指数m之间的函数关系,最后获得储层含气饱和度的近似解,进而实现对储层类型的准确判断。

2.根据权利要求1所述的获取低孔渗储层测井饱和度的方法,其特征在于所述方法包括:

(1)确定致密层的m值:设定电阻率大于2000欧姆米的火山岩储层含水饱和度为100%,将岩电实验求取的基础参数代入阿尔奇公式,反求该点的m值;

(2)确定各类干层的m值:设已测试干层及其他不同电阻率的干层含水饱和度为95%,运用与步骤(1)相同的方法反求与之对应的m值;

(3)确定气层的m值:应用岩电实验求取的较高孔隙度储层的m值;

(4)确定m值测井解释图版:将步骤(1)和步骤(2)中对应不同电阻率反求得到的m值与步骤(3)中的气层电阻率对应的m值制作成m值测井解释图版;

(5)确定储层流体性质:将通过m值测井解释图版求取的m值及岩电实验求取的基础参数代入阿尔奇公式中,求取储层含气饱和度的近似解,进而确定储层流体性质;

所述基础参数包括a、b和n,其中,a、b是与地层因素和电阻率增大率相关的系数,n是饱和度指数。

3.根据权利要求2所述的获取低孔渗储层测井饱和度的方法,其特征在于:所述阿尔奇公式为:

式中,a、b是与地层因素和电阻率增大率相关的系数;

m是胶结指数;

n是饱和度指数;

Rw是地层水电阻率;

φ是测井孔隙度;

Rt是地层真电阻率;

Sw是含水饱和度。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院,未经中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010524252.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top