[发明专利]一种获取低孔渗储层测井饱和度的方法有效
| 申请号: | 201010524252.6 | 申请日: | 2010-10-29 |
| 公开(公告)号: | CN102454401A | 公开(公告)日: | 2012-05-16 |
| 发明(设计)人: | 李浩;刘传喜;郑荣臣;冯琼 | 申请(专利权)人: | 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院 |
| 主分类号: | E21B49/00 | 分类号: | E21B49/00;E21B47/00 |
| 代理公司: | 北京思创毕升专利事务所 11218 | 代理人: | 刘明华 |
| 地址: | 100728 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 获取 低孔渗储层 测井 饱和度 方法 | ||
1.一种获取低孔渗储层测井饱和度的方法,其特征在于:所述方法首先确定储层中对应不同电阻率的胶结指数m,然后建立电阻率与胶结指数m之间的函数关系,最后获得储层含气饱和度的近似解,进而实现对储层类型的准确判断。
2.根据权利要求1所述的获取低孔渗储层测井饱和度的方法,其特征在于所述方法包括:
(1)确定致密层的m值:设定电阻率大于2000欧姆米的火山岩储层含水饱和度为100%,将岩电实验求取的基础参数代入阿尔奇公式,反求该点的m值;
(2)确定各类干层的m值:设已测试干层及其他不同电阻率的干层含水饱和度为95%,运用与步骤(1)相同的方法反求与之对应的m值;
(3)确定气层的m值:应用岩电实验求取的较高孔隙度储层的m值;
(4)确定m值测井解释图版:将步骤(1)和步骤(2)中对应不同电阻率反求得到的m值与步骤(3)中的气层电阻率对应的m值制作成m值测井解释图版;
(5)确定储层流体性质:将通过m值测井解释图版求取的m值及岩电实验求取的基础参数代入阿尔奇公式中,求取储层含气饱和度的近似解,进而确定储层流体性质;
所述基础参数包括a、b和n,其中,a、b是与地层因素和电阻率增大率相关的系数,n是饱和度指数。
3.根据权利要求2所述的获取低孔渗储层测井饱和度的方法,其特征在于:所述阿尔奇公式为:
式中,a、b是与地层因素和电阻率增大率相关的系数;
m是胶结指数;
n是饱和度指数;
Rw是地层水电阻率;
φ是测井孔隙度;
Rt是地层真电阻率;
Sw是含水饱和度。
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