[发明专利]一种c-KIT基因突变检测液相芯片有效
| 申请号: | 201010292616.2 | 申请日: | 2010-09-21 |
| 公开(公告)号: | CN101984070A | 公开(公告)日: | 2011-03-09 |
| 发明(设计)人: | 许嘉森;余刚 | 申请(专利权)人: | 广州益善生物技术有限公司 |
| 主分类号: | C12Q1/68 | 分类号: | C12Q1/68 |
| 代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 万志香;曾旻辉 |
| 地址: | 510663 广东省广州市广州科*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 kit 基因突变 检测 芯片 | ||
1.一种c-KIT基因突变检测液相芯片,其特征是,主要包括有:
(A)针对c-KIT基因的突变位点,分别设计的野生型和突变型的ASPE引物对:每种ASPE引物由5’端的tag序列和3’端针对突变位点的特异性引物组成,所述特异性引物是:针对AY502-503dup突变位点的SEQ ID NO.10和SEQ ID NO.11、针对V560G突变位点的SEQ ID NO.12和SEQ ID NO.13、针对T670I突变位点的SEQ ID NO.14和SEQ ID NO.15、和/或针对D816H/V突变位点的SEQ ID NO.16及SEQ ID NO.17和SEQ ID NO.18;所述tag序列选自SEQ ID NO.1~SEQ ID NO.9;
(B)分别包被有特异的anti-tag序列的、具有不同颜色编码的微球,所述anti-tag序列选自SEQ ID NO.19~SEQ ID NO.27中的序列,所述anti-tag序列能相应地与(A)中所选的tag序列互补配对,且所述anti-tag序列与微球连接中间还设有间隔臂序列;
(C)用于扩增具有AY502-503dup、V560G、T670I、和/或D816H/V的突变位点的c-KIT基因目标序列的扩增引物。
2.根据权利要求1所述的c-KIT基因突变检测液相芯片,其特征是,所述扩增引物为:针对AY502-503dup和V560G突变位点的SEQ ID NO.28和SEQ ID NO.29、针对T670I突变位点的SEQ ID NO.30和SEQ ID NO.31、和/或针对D816H/V突变位点的SEQ ID NO.32和SEQ ID NO.33。
3.根据权利要求1或2所述的c-KIT基因突变检测液相芯片,其特征是,
(A)ASPE引物对为:针对AY502-503dup突变位点的由SEQ ID NO.1和SEQ ID NO.10组成的序列及由SEQ ID NO.2和SEQ ID NO.11组成的序列、针对V560G突变位点的由SEQ ID NO.3和SEQ ID NO.12组成的序列及由SEQ ID NO.4和SEQ ID NO.13组成的序列、针对T670I突变位点的由SEQ ID NO.5和SEQ ID NO.14组成的序列及由SEQ ID NO.6和SEQ ID NO.15组成的序列、和/或针对D816H/V突变位点的由SEQ ID NO.7和SEQ ID NO.16组成的序列、由SEQ ID NO.8和SEQ ID NO.17组成的序列及由SEQ ID NO.9和SEQ ID NO.18组成的序列。
4.根据权利要求3所述的c-KIT基因突变检测液相芯片,其特征是,
(A)ASPE引物对为:针对AY502-503dup突变位点的由SEQ ID NO.1和SEQ ID NO.10组成的序列及由SEQ ID NO.2和SEQ ID NO.11组成的序列、针对V560G突变位点的由SEQ ID NO.3和SEQ ID NO.12组成的序列及由SEQ ID NO.4和SEQ ID NO.13组成的序列、针对T670I突变位点的由SEQ ID NO.5和SEQ ID NO.14组成的序列及由SEQ ID NO.6和SEQ ID NO.15组成的序列、和针对D816H/V突变位点的由SEQ ID NO.7和SEQ ID NO.16组成的序列、由SEQ ID NO.8和SEQ ID NO.17组成的序列及由SEQ ID NO.9和SEQ ID NO.18组成的序列;
(B)分别包被有特异的anti-tag序列的、具有不同颜色编码的微球,所述anti-tag序列选自SEQ ID NO.19~SEQ ID NO.27中的序列,所述anti-tag序列能相应地与(A)中所选的tag序列互补配对,且所述anti-tag序列与微球连接中间还设有间隔臂序列;
(C)所述扩增引物为:针对AY502-503dup和V560G突变位点的SEQ ID NO.28和SEQ ID NO.29、针对T670I突变位点的SEQ ID NO.30和SEQ ID NO.31、和针对D816H/V突变位点的SEQ ID NO.32和SEQ ID NO.33。
5.根据权利要求1所述的c-KIT基因突变检测液相芯片,其特征是,所述间隔臂序列为5-10个T。
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