[发明专利]一种具有亚微米结构的OLED制造工艺无效
申请号: | 201010286694.1 | 申请日: | 2010-09-20 |
公开(公告)号: | CN101969104A | 公开(公告)日: | 2011-02-09 |
发明(设计)人: | 王莉;丁玉成;原俊文;罗钰;何众贇;邝俊生 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学;西安瑞特快速制造工程研究有限公司 |
主分类号: | H01L51/56 | 分类号: | H01L51/56 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 陆万寿 |
地址: | 710049 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 具有 微米 结构 oled 制造 工艺 | ||
技术领域
本发明属于OLED制造领域,涉及一种OLED制造工艺,尤其涉及一种具有亚微米结构的OLED制造工艺。
背景技术
有机电致发光器件OLED在迅速的发展起来,纳米制造技术也在逐渐的积累。近几年,将纳米图形应用在OLED的制作工艺中已做了不少的尝试。理论上其可以显著的提高现有OLED的一些性能参数,如出光效率,载流子的复合率等。但是,在OLED器件上制作亚微米结构难度很大,针对OLED的玻璃上的图形化比较困难,例如采用纳米压印的办法,必须制作硬模具,但模具精度不能保证,压印尺寸精度不能保证,脱模又容易损伤微结构。另外为了增加OLED器件的寿命,提高OLED器件的发光性能,现在在OLED的图形化工艺之后,普遍采用添加缓冲层的方法以使后续制作的ITO电极平整。但是,这样就大大增加了缓冲层制作的工艺时间,并且减少制作良品率。另外,即使添加了缓冲层,ITO表面也不是绝对平整的,而是有一定的波浪起伏。这种起伏的波浪会产生SPPs表面等离子体激元效应,降低出光率。
因此,确有必要提供一种具有亚微米结构的OLED制造工艺。
发明内容
本发明的目的是提供一种具有亚微米结构OLED的制造工艺,以解决模具精度不能保证,压印尺寸精度不能保证,脱模容易损伤微结构等问题。
该工艺包括下述步骤:
(a)制备二氧化硅薄膜:通过磁控溅射在玻璃基片上覆上一层二氧化硅薄膜;
(b)二氧化硅图形化:在步骤(a)所述的二氧化硅薄膜上制作纳米图形结构;
(c)制作OLED结构阳极:在二氧化硅上均匀旋涂一层ITO导电溶胶,使其作为此OLED结构阳极;
(d)在阳极上依次蒸镀空穴输运层,蒸镀发光层及电子输运层,最后蒸镀阴极。
所述步骤(b)按照如下步骤:
首先,通过真空蒸镀的方式,在二氧化硅上覆上一层金属导电薄膜;然后涂胶,通过旋涂的方法把电子束光刻胶涂敷在金属导电薄膜表面;其次进行电子束光刻,使光刻胶 图形化;再次用反应离子将图形从电子束光刻胶上转移到金属膜上,然后用有机溶剂去掉电子束光刻胶;第二次进行反应离子刻蚀,通过刻蚀把金属膜上的图形转移到二氧化硅薄膜上,即得到需要的图形,从而将纳米图形转移到二氧化硅薄膜上;最后用PH=3.5的稀盐酸溶液去除金属膜。
所述步骤(b)进行电子束光刻按照如下步骤:首先通过旋涂的方法把光刻胶涂敷在二氧化硅表面;其次进行直写干涉光刻方法,使光刻胶图形化;再次用反应离子刻蚀将图形从抗蚀胶上转移到二氧化硅上;即得到需要的图形,从而将纳米图形转移到二氧化硅上;最后用有机溶剂去掉光刻胶。
所述步骤(c)中ITO导电溶胶是:氯化锡和硝酸铟以质量比9∶1溶解在去离子水中形成的溶胶,溶胶中溶质颗粒直径在5nm左右。
采用上述的具有亚微米结构OLED的制造工艺,可以较容易制作出适用于OLED器件的高精度的亚微米级结构,解决了OLED在玻璃上图形化的难题,如采用纳米压印则必须制作硬模具,但模具精度不能保证,压印尺寸精度不能保证,脱模又容易损伤微结构。而且本工艺采用导电透明ITO薄膜作为OLED结构阳极,由于采用了溶胶旋涂工艺,使得ITO薄膜更好的同二氧化硅上的微纳图形结合,成膜更为均匀。
目前的工艺在OLED的图形化工艺之后,普遍采用添加缓冲层的方法以使后续制作的ITO电极平整,但这样就大大增加了缓冲层制作的工艺时间,此外即使添加了缓冲层,ITO表面也不是绝对平整的,而是有一定的波浪起伏。这种起伏的波浪会产生SPPs表面等离子体激元效应,降低出光率。采用本制造工艺则可以获得均匀的ITO阳极层,极大地改善上述缺点。
附图说明
附图1为具有利用电子束光刻方法制作高保真纳米结构的OLED器件制作流程图。
图1-a为磁控溅射二氧化硅薄膜的工艺图。
图1-b为蒸镀铝膜工艺图。
图1-c为电子束光刻胶涂覆工艺图。
图1-d为电子束光刻胶图形化工艺图。
图1-e为以电子束光刻胶作掩膜刻蚀铝膜工艺图。
图1-f为用有机溶剂去除电子束光刻胶工艺图。
图1-g为以铝作掩膜刻蚀二氧化硅薄膜工艺图。
图1-h为用酸溶液去除铝膜工艺图。
图1-i为旋涂一层ITO溶胶薄膜工艺图。
图1-j为传统的OLED制备工艺图。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L51-42 .专门适用于感应红外线辐射、光、较短波长的电磁辐射或微粒辐射;专门适用于将这些辐射能转换为电能,或者适用于通过这样的辐射进行电能的控制
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