[发明专利]单天线干扰消除能力识别方法和装置有效
申请号: | 201010285643.7 | 申请日: | 2010-09-15 |
公开(公告)号: | CN101938437A | 公开(公告)日: | 2011-01-05 |
发明(设计)人: | 杨广义 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | H04L25/03 | 分类号: | H04L25/03;H04L27/00;H04B17/00 |
代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人: | 何文彬 |
地址: | 518129 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 天线 干扰 消除 能力 识别 方法 装置 | ||
技术领域
本发明涉及无线通信领域,特别涉及一种单天线干扰消除能力识别方法和装置。
背景技术
目前,终端存在两种类型,一种是SAIC(Single Antenna Interference Cancellation,单天线干扰消除)终端,另一种是Non-SAIC(非单天线干扰消除)终端。
现行的通信系统,网络侧设备根据终端上报的终端类型,确定该终端是否具有SAIC能力,当上报的终端类型为SAIC时,网络侧将该终端识别为具有SAIC能力,当上报的终端类型为Non-SAIC时,网络侧将该终端识别为不具有SAIC能力。
然而,Non-SAIC类型的终端中很大一部分具有SAIC能力,也即具有单天线干扰消除能力,只是将类型上报为Non-SAIC,将这类终端称为mute SAIC(静默单天线干扰消除)终端。
本发明的发明人发现现有技术至少存在以下问题:现行的通信系统根据终端上报的终端类型确定该终端是否具有SAIC能力,将具有SAIC能力的静默SAIC终端排除在外,SAIC能力识别的准确性较差。
发明内容
为了提高SAIC能力识别的准确性,本发明实施例提供了一种单天线干扰消除能力识别方法和装置。
一方面,本发明实施例提供了一种单天线干扰消除能力识别方法,所述方法包括:
使用阿尔法正交相移键控(alpha-QPSK)调制和高斯最小移频键控(GMSK)调制分别对非单天线干扰消除(Non-SAIC)类型的待测终端进行测试;
根据所述待测终端在alpha-QPSK调制与GMSK调制下对应的下行质量,识别所述待测终端是否具有单天线干扰消除(SAIC)能力。
另一方面,本发明实施例提供了一种单天线干扰消除能力识别方法,所述方法包括:
待测终端将阿尔法正交相移键控(alpha-QPSK)调制和高斯最小移频键控(GMSK)调制下对应的下行质量信息上报给单天线干扰消除(SAIC)能力识别的装置,使所述SAIC能力识别的装置根据所述下行质量信息获取alpha-QPSK调制与GMSK调制下对应的下行质量,识别所述待测终端是否具有单天线干扰消除(SAIC)能力。
另一方面,本发明实施例提供了一种单天线干扰消除能力识别装置,所述装置包括:
测试模块,用于使用阿尔法正交相移键控(alpha-QPSK)调制和高斯最小移频键控(GMSK)调制分别对非单天线干扰消除(Non-SAIC)类型的待测终端进行测试;
识别模块,用于根据所述待测终端在alpha-QPSK调制与GMSK调制下对应的下行质量,识别所述待测终端是否具有单天线干扰消除(SAIC)能力。
另一方面,本发明实施例提供了一种基站控制器,包括上述单天线干扰消除能力识别装置。
另一方面,本发明实施例提供了一种终端,用于将阿尔法正交相移键控(alpha-QPSK)调制和高斯最小移频键控(GMSK)调制下对应的下行质量信息上报给单天线干扰消除(SAIC)能力识别的装置,使所述SAIC能力识别的装置根据所述下行质量信息获取alpha-QPSK调制与GMSK调制下对应的下行质量,识别所述待测终端是否具有单天线干扰消除(SAIC)能力。
本发明实施例的一方面,通过使用alpha-QPSK调制和GMSK调制分别对非单天线干扰消除Non-SAIC类型的待测终端进行测试,根据待测终端在alpha-QPSK调制与GMSK调制下对应的下行质量,识别待测终端是否具有单天线干扰消除SAIC能力,从而识别出具有SAIC能力的静默SAIC终端,可以提高SAIC能力识别的准确性;另一方面,通过上报alpha-QPSK调制和GMSK调制下对应的下行质量信息给SAIC能力识别的装置,使SAIC能力识别的装置能够根据下行质量信息获取alpha-QPSK调制与GMSK调制下对应的下行质量,进一步可以识别待测终端是否具有SAIC能力,从而识别出具有SAIC能力的静默SAIC终端,可以提高SAIC能力识别的准确性。
附图说明
图1是本发明一实施例提供的SAIC能力识别的方法流程图;
图2是本发明另一实施例提供的SAIC能力识别的方法流程图;
图3是本发明另一实施例提供的SAIC能力识别的装置结构示意图;
图4是本发明另一实施例提供的SAIC能力识别的另一装置结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。
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