[发明专利]单天线干扰消除能力识别方法和装置

权利要求书

1.一种单天线干扰消除能力识别方法，其特征在于，所述方法包括：

使用阿尔法正交相移键控(alpha-QPSK)调制和高斯最小移频键控(GMSK)调制分别对非单天线干扰消除(Non-SAIC)类型的待测终端进行测试；

根据所述待测终端在alpha-QPSK调制与GMSK调制下对应的下行质量，识别所述待测终端是否具有单天线干扰消除(SAIC)能力。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述使用alpha-QPSK调制和GMSK调制分别对Non-SAIC类型的待测终端进行测试包括：

根据检测参数，使用alpha-QPSK调制和GMSK调制交替对所述待测终端进行测试，其中，所述检测参数包括：检测次数n和检测时间T中的至少一个、交替周期N和质量变化门限，所述交替周期N表示每隔N个时隙将所述待测终端下行数据的调制方式在alpha-QPSK调制和GMSK调制中进行切换，N为大于或等于1的整数，所述检测次数n表示alpha-QPSK调制和GMSK调制交替的次数，n为大于或等于1的整数，所述检测时间T，表示检测过程持续的最大时间，所述质量变化门限为判断所述待测终端是否具有SAIC能力的检测门限。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测终端在alpha-QPSK调制与GMSK调制下对应的下行质量，识别所述待测终端是否具有单天线干扰消除SAIC能力包括：

根据获取第一下行质量相关值，其中，ΔRxQual₁为第一下行质量相关值，RxQual_QPSK和RxQual_GMSK分别为alpha-QPSK调制和GMSK调制每个上报周期对应的下行质量，c为倍增因子，取值范围为c≥1，P为所述交替周期N中所述上报周期的个数，P≤N；

根据获取第二下行质量相关值，其中，ΔRxQual₂为第二下行质量相关值；

如果所述第二下行质量相关值小于或等于所述质量变化门限，确定所述待测终端具备SAIC能力。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述确定所述待测终端具备SAIC能力之前还包括：

根据获取第一方差σ₁²；如果所述第一方差σ₁²小于或等于预设的方差，确定所述待测终端具备SAIC能力。

5.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述质量变化门限包括质量变化门限下限M1和质量变化上限M2；

所述根据所述待测终端在alpha-QPSK调制与GMSK调制下对应的下行质量，识别所述待测终端是否具有单天线干扰消除SAIC能力包括：

根据获取第三下行质量相关值，其中，ΔRxQual₃为第三下行质量相关值，RxQual_QPSK和RxQual_GMSK分别为alpha-QPSK调制和GMSK调制每个上报周期对应的下行质量，c为倍增因子，取值范围为c≥1，P为所述交替周期N中所述上报周期的个数，P≤N；

根据获取第四下行质量相关值，其中，ΔRxQual₄为第四下行质量相关值；

如果所述第四下行质量相关值在M1和M2之间，确定所述待测终端具备SAIC能力。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述确定所述待测终端具备SAIC能力之前还包括：

根据获取第二方差；如果所述第二方差σ₂²小于或等于预设的方差，确定所述待测终端具备SAIC能力。