[发明专利]影像检测元件

说明书

技术领域

本发明有关于一种影像检测元件，且特别是有关于一种具有抗反射膜的影像检测元件。

背景技术

影像检测元件已被广泛地应用在多种电子产品中，如数码相机、行动电话、摄影机、扫描器等。常见的影像检测元件包括电荷耦合元件(charge coupled device，CCD)与金属氧化物半导体(complementary metal oxide semiconductor，CMOS)影像检测元件。这些影像检测元件通常包括一基底(substrate)，且基底上形成有呈阵列排列的多个检测单元，而这些检测单元用以检测光线。

承上述，为了让影像检测元件所检测到的影像为彩色影像，基底上通常形成有一彩色滤光层(color filter layer)。此外，为了提高每一检测单元的检测范围，在彩色滤光层上会形成多个微透镜，而这些微透镜分别对应这些检测单元。

虽然微透镜可提高每一检测单元的检测范围，但因微透镜的入光效率不佳，导致光线入射微透镜时容易产生杂散光。如此，每一检测单元容易检测到从邻近的微透镜散射而来的杂散光，导致影像检测元件所检测到的影像品质不佳。

发明内容

本发明的目的在于，提供一种影像检测元件，以提升影像检测品质。

为达上述优点，本发明提出一种影像检测元件，其包括一基底、一彩色滤光层、多个微透镜以及多个抗反射单元。基底具有多个检测单元，而彩色滤光层覆盖这些检测单元。这些微透镜配置于彩色滤光层上，且这些微透镜分别对应这些检测单元。此外，这些抗反射单元分别配置于这些微透镜上。每一抗反射单元包括堆叠于对应的微透镜上的多个抗反射膜，且相邻的二抗反射膜的折射率不同。

在本发明的一实施例中，上述的每一抗反射单元包括一第一抗反射膜与一第二抗反射膜。第一抗反射膜配置于对应的微透镜上，而第二抗反射膜配置于第一抗反射膜上，且第一抗反射膜的折射率低于第二抗反射膜的折射率。

在本发明的一实施例中，上述的每一抗反射单元包括多个第一抗反射膜与多个第二抗反射膜。第一抗反射膜与第二抗反射膜交替堆叠于对应的微透镜上，这些第一抗反射膜其中的一接触对应的微透镜，且第一抗反射膜的折射率低于第二抗反射膜的折射率。

在本发明的一实施例中，上述的第一抗反射膜的折射率为N1，第二抗反射膜的折射率为N2，且N2大于或等于N1。

在本发明的一实施例中，上述的影像检测元件更包括一保护层，配置于基底与彩色滤光层之间。

在本发明的一实施例中，上述的抗反射膜的材质包括二氧化钛(TiO₂)、氟化镁(MgF₂)或氟化锌(ZnF₂)。

在本发明的影像检测元件中，由于每一微透镜上设有抗反射单元，所以可增加微透镜的入光效率并减少杂散光的产生，进而降低检测单元检测到杂散光的机率。因此，本发明的影像检测元件具有较佳的影像检测品质。

为让本发明的上述和其他目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合附图，作详细说明如下。

附图说明

图1是本发明一实施例的一种影像检测元件的示意图。

图2是本发明另一实施例的一种影像检测元件的示意图。

主要元件符号说明：

100、100’：影像检测元件     110：基底

112：检测单元                120：彩色滤光层

122、124、126：彩色滤光图案  128：平坦层

130：微透镜1                 40、140’：抗反射膜

142：第一抗反射膜            144：第二抗反射膜

150：保护层

具体实施方式

图1是本发明一实施例的一种影像检测元件的示意图。请参照图1，本实施例的影像检测元件100可为电荷耦合元件与金属氧化物半导体影像检测元件，但不以此为限。此影像检测元件100包括一基底110、一彩色滤光层120、多个微透镜130以及多个抗反射单元140。基底110具有多个检测单元112，而彩色滤光层120覆盖这些检测单元112。这些微透镜130配置于彩色滤光层120上，且这些微透镜130分别对应这些检测单元112。此外，这些抗反射单元140分别配置于这些微透镜130上。