[发明专利]影像检测元件无效
申请号: | 201010274193.1 | 申请日: | 2010-09-07 |
公开(公告)号: | CN102403322A | 公开(公告)日: | 2012-04-04 |
发明(设计)人: | 陈晖暄 | 申请(专利权)人: | 原相科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;G02B1/11 |
代理公司: | 北京汇智英财专利代理事务所 11301 | 代理人: | 牟长林 |
地址: | 中国台湾新竹科学工业*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 影像 检测 元件 | ||
1.一种影像检测元件,其特征在于包括:
一个基底,具有多个检测单元;
一个彩色滤光层,覆盖各该检测单元;
多个微透镜,配置于该彩色滤光层上,且各该微透镜分别对应各该检测单元;以及
多个抗反射单元,分别配置于各该微透镜上,每一抗反射单元包括堆叠于对应的该微透镜上的多个抗反射膜,且相邻的两个抗反射膜的折射率不同。
2.如权利要求1所述的影像检测元件,其特征在于,每一抗反射单元包括:
一个第一抗反射膜,配置于对应的该微透镜上;以及
一个第二抗反射膜,配置于该第一抗反射膜上,且该第一抗反射膜的折射率低于该第二抗反射膜的折射率。
3.如权利要求1所述的影像检测元件,其特征在于,每一抗反射单元包括多个第一抗反射膜与多个第二抗反射膜,各该第一抗反射膜与各该第二抗反射膜交替堆叠于对应的该微透镜上,各该第一抗反射膜其中之一接触对应的该微透镜,且各该第一抗反射膜的折射率低于各该第二抗反射膜的折射率。
4.如权利要求1所述的影像检测元件,其特征在于,各该抗反射膜的材质为二氧化钛、氟化镁或氟化锌。
5.如权利要求1所述的影像检测元件,其特征在于,更包括一个保护层,配置于该基底与该彩色滤光层之间。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的