[发明专利]单面快速调整探针高度的迫紧机构、方法及电阻测量设备

说明书

技术领域

本发明系关于一种电阻测量设备及探针迫紧结构，特别是一种在微调探针高度后，用来固定探针位置的探针迫紧结构及电阻测量设备。

背景技术

市面上的电子产品，比如：手机、笔记本电脑、随身听等，五花八门。而由于工程塑料可以射出成形的方式制备成各种形状，因此，电子产品的外壳通常使用塑料外壳。电子产品的塑胶外壳通常必需镀上金属层，除了使电子产品的外壳具有良好的视觉美感与质感之外，也可防止电磁波任意穿透塑胶外壳，影响电子产品的使用。

对于各种的待测工件而言，多个待测点的电阻值是非常重要的参考数据。例如：在塑胶件的金属镀膜层上，藉由测量多点电阻值，即可得知金属镀膜层是否均匀，以及塑胶件中有无断路。

在申请案号为97131338的专利案中，已提供一种可测量多点电阻值的测量系统及其方法，通过同步以测量电路分时测量被传送电流的两探针的跨压，可在短时间内大量测量多个待测点，甚至测量工件表面超过15个点的电阻值，此自动化测量电阻值的方式可大幅降低人力成本。

现有的测量系统如图1所示，电阻测量设备1包括一控制装置11、平台12、一升降装置13、一升降台14、一探针板15、多个探针16及双螺帽17，用来使探针定位。平台12上并承载一工件10，通常为笔电或手机的外壳。

由于笔电、手机的外壳为了流线化，常常都不是呆滞的方块状，而是流线体。此外，外壳的内部须包含多个凹陷区以分别容置如：硬碟、散热片、键盘等装置，并有多个螺丝柱用以锁固螺丝，甚至具有许多沟槽等。因此，要测量工件表面的电阻值时，须特别调整探针的高度，以避免撞针而使探针折损，或者是由于探针位置距离工件表面太远而无法测量电阻值。

由图中可看出，当探针板15由升降台14控制而下降至距离工件10表面一定高度时，调整探针16的高度使之恰好和工件平面相接触，再利用位于探针板15上下的螺帽17来锁固探针。

目前只能当探针板15下降至非常靠近工件10表面时，通过人力手动调整每根探针16的高度，再以螺帽17固定。但由于针板15太靠近工件10，而工件10表面又凹凸不平，当手动以探针板15下的螺帽17固定探针位置时十分不便，再加上探针数量又多，在测量的准备流程中既耗时又耗力。因此，如何改善固定探针的设计，使调整探针高度的作业更为流畅及迅速，为本发明所欲解决的问题。

发明内容

有鉴于上述课题，本发明的目的系提供一种探针迫紧机构，用以固定探针于一探针板所预设的通孔中，探针迫紧机构包括：一固定元件，设有一紧配部及一第一斜面延伸部，固定元件以紧配部固设于通孔下半部；及一定位元件，设有一帽檐及一第二斜面延伸部，固定探针时，对帽檐施力将定位元件压入通孔，使第二斜面延伸部紧配于第一斜面延伸部，以对探针提供一径向压迫力来使探针固定。

本发明并提供一种电阻测量设备，用以对一已镀金属膜的塑料工件进行电阻值测量，电阻测量设备包括：一探针板，预设多个通孔以放置多根探针，以形成多个电阻值测量点；及多个探针迫紧机构，一一设置于该些通孔，用以固定该些探针，每一探针迫紧机构包括一固定元件及一定位元件，其中，固定元件设有一紧配部及一第一斜面延伸部，固定元件以紧配部固设于通孔下半部，定位元件设有一帽檐及一第二斜面延伸部，固定探针时，对帽檐施力将定位元件压入通孔，使第二斜面延伸部紧配于第一斜面延伸部，以对探针提供一径向压迫力来使探针固定。

本发明并提供一种单面微调探针高度并固定的方法，用以对一已镀金属膜的塑料工件进行电阻值测量，包括：提供一探针迫紧机构，包括一固定元件及一定位元件，其中，固定元件，设有一紧配部及一第一斜面延伸部，定位元件，设有一帽檐及一第二斜面延伸部；将固定元件以紧配部固设于通孔下半部；将探针由上而下插入固定元件中，并调整探针高度；及对帽檐施力将定位元件压入通孔，使第二斜面延伸部紧配于第一斜面延伸部，以对探针提供一径向压迫力来使探针固定。

同时，本发明相对于现有技术的功效，可更方便且迅速的调整及固定探针，缩短测量电阻值之前准备流程所需耗费的时间。

附图说明

图1显示现有的电阻测量设备的示意图；

图2显示本发明电阻测量设备的示意图；

图3A显示使用本发明的探针迫紧机构固定探针固定前的剖面示意图；及

图3B显示使用本发明的探针迫紧机构固定探针固定后的剖面示意图；及

图3C显示使用本发明探针迫紧机构的另一实施例固定探针的剖面示意图；

图4显示使用本发明探针迫紧机构的又一实施例固定探针的剖面示意图。

附图标号：