[发明专利]单面快速调整探针高度的迫紧机构、方法及电阻测量设备

权利要求书

1.一种探针迫紧机构，用以固定探针于一探针板所预设的通孔中，其特征在于，所述的探针迫紧机构包括：

一固定元件，设有一紧配部及一第一斜面延伸部，所述固定元件以所述紧配部固设于所述通孔下半部；及

一定位元件，设有一帽檐及一第二斜面延伸部，固定所述探针时，对所述帽檐施力将所述定位元件压入所述通孔，使所述第二斜面延伸部紧配于所述第一斜面延伸部，以对所述探针提供一径向压迫力来使探针固定。

2.如权利要求1所述的探针迫紧机构，其特征在于，所述定位元件固定所述探针后，所述帽檐与所述探针板之间具有一间隙，以方便组装人员将工具伸入将所述定位元件扳起，来重新调整探针高度。

3.如权利要求1所述的探针迫紧机构，其特征在于，所述固定元件及所述定位元件的材质选自塑胶、橡胶或软木其中的一种。

4.如权利要求1所述的探针迫紧机构，其特征在于，所述通孔内设有螺纹，所述固定元件具有一环型底座，藉由旋转所述环型底座使所述紧配部螺入所述通孔，以将所述固定元件固定。

5.如权利要求1所述的探针迫紧机构，其特征在于，所述第二斜面延伸部填入所述第一斜面延伸部和所述通孔孔壁所形成的空间中，径向紧配于所述第一斜面延伸部。

6.如权利要求1所述的探针迫紧机构，其特征在于，所述第二斜面延伸部填入所述第一斜面延伸部和所述探针所形成的空间中，径向紧配于所述第一斜面延伸部。

7.一种电阻测量设备，用以对一已镀金属膜的塑料工件进行电阻值测量，其特征在于，所述电阻测量设备包括：

一探针板，预设多个通孔以放置多根探针，以形成多个电阻值测量点；及

多个探针迫紧机构，一一设置于所述通孔，用以固定所述探针，每一探针迫紧机构包括一固定元件及一定位元件，其中，所述固定元件，设有一紧配部及一第一斜面延伸部，所述固定元件以所述紧配部固设于所述通孔下半部，所述定位元件，设有一帽檐及一第二斜面延伸部，固定所述探针时，对所述帽檐施力将所述定位元件压入所述通孔，使所述第二斜面延伸部紧配于所述第一斜面延伸部，以对所述探针提供一径向压迫力来使探针固定。

8.如权利要求7所述的测量设备，其特征在于，所述探针板系根据所述塑料工件的客制化需求而设立所述探针的位置，其中所述多根探针至少3根以上。

9.如权利要求7所述的测量设备，其特征在于，所述探针迫紧机构更包括一垫圈，所述垫圈固定于所述探针板和所述定位元件之间，以保护所述定位元件，并且所述垫圈、所述固定元件及所述定位元件的材质选自塑胶、橡胶或软木其中的一种。

10.如权利要求7所述的测量设备，其特征在于，所述定位元件固定所述探针后，所述帽檐与所述探针板之间具有一间隙，以方便组装人员将工具伸入以将所述定位元件扳起，来重新调整探针高度。

11.一种单面微调探针高度并固定的方法，用以对一工件进行电性测量，其特征在于，所述的方法包括：

提供一探针迫紧机构，包括一固定元件及一定位元件，其中，所述固定元件，设有一紧配部及一第一斜面延伸部，所述定位元件，设有一帽檐及一第二斜面延伸部；

将所述固定元件以所述紧配部固设于所述通孔下半部；

将所述探针插入所述固定元件中，并依照所述工件表面的待测点的高度将探针调整至一预定位置；及

对所述帽檐施力将所述定位元件压入所述通孔，使所述第二斜面延伸部紧配于所述第一斜面延伸部，以对所述探针提供一径向压迫力来使探针固定。

12.如权利要求11所述的方法，其特征在于，所述定位元件固定所述探针后，所述帽檐与所述探针板之间具有一间隙，所述方法更包括利用一工具伸入所述间隙以将所述定位元件扳起，重新调整探针位置。