[发明专利]提高光束偏振度测量精度的方法

权利要求书

1.一种提高光束偏振度测量精度的方法，使用的偏振检测装置包括沿装置系统光轴依次设置的相位延迟器件、检偏器和光电探测器，该光电探测器的输出接信号处理系统，所述的相位延迟器件在驱动器的驱动下可绕装置系统光轴旋转，待测光束平行于系统光轴入射至所述的相位延迟器件和检偏器，并由所述的光电探测器探测，该光电探测器输出的电信号送入所述的信号处理系统进行数据处理，其特征在于，根据所述的待测光束的偏振方向，调整所述的检偏器的透光轴方向与所述的待测光束的偏振方向平行或垂直后，再进行待测光束偏振度的测量。

2.根据权利要求1所述的提高光束偏振度测量精度的方法，其特征在于：当概知待测光束的偏振方向时，其具体测量步骤如下：

①调整所述的检偏器的透光轴方向与所述的待测光束的偏振方向平行或垂直；

②利用所述的偏振检测装置对待测光束进行测量并经数据处理后，最终得到所述的待测光束的斯托克斯参数和偏振度。

3.根据权利要求1所述的提高光束偏振度测量精度的方法，其特征在于：当未知待测光束的偏振方向时，其具体测量步骤如下：

①利用所述的偏振检测装置按现有的方法测量并经数据处理后获得待测光束的第一次斯托克斯参数和待测光束的偏振方向；

②调整所述的检偏器的透光轴方向与所述的待测光束的偏振方向平行或垂直；

③利用所述的偏振检测装置对待测光束进行第二次测量并经数据处理后，最终得到所述的待测光束的斯托克斯参数和偏振度。

4.根据权利要求1所述的提高光束偏振度测量精度的方法，其特征在于所述的相位延迟器件为产生90°相位延迟的四分之一波片、电光调制器或光弹调制器。

5.根据权利要求1所述的提高光束偏振度测量精度的方法，其特征在于所述的驱动器驱动所述的相位延迟器件绕系统光轴匀速旋转，或者通过驱动相位延迟器件旋转能够设置相位延迟器件的快轴与所述的检偏器透光轴之间至少四个不同的角度的位置。

6.根据权利要求1所述的提高光束偏振度测量精度的方法，其特征在于所述的光电探测器为二维面阵探测器或点探测器。