[发明专利]荧光检测器

说明书

技术领域

本发明涉及一种检测在用激励光照射样品时样品发出的荧光的荧光检测器，该荧光检测器主要与液相色谱法、流动注射分析仪等一起使用。

背景技术

通常的荧光检测器构造为：在激励侧用从分光仪提取的特定波长的激励光照射包含待测样品溶液的样品池。样品溶液发出的荧光通过荧光侧的分光仪，使荧光的波长分散，将荧光引入光电检测器，在该光电检测器处检测荧光。通常，由石英玻璃等制成的矩形池用作样品池。但是，当检测器使用液相色谱法或流动注射分析仪时使用流通池。

图5示出了典型荧光检测器(例如见专利文献1)的光学系统的示意图。样品溶液S，例如，已经通过液相色谱柱的溶液，流经由诸如石英玻璃这样的透明材料制成的流通池3。激励侧分光仪2从光源单元1发出的光提取具有特定波长的光。提取出的光作为激励光Lex照射到流通池3上。样品溶液中的目标成分受到激励光Lex激励且发出荧光Lm，该荧光Lm通过流通池3，到达荧光侧分光仪4。荧光侧分光仪4提取具有特定波长的荧光，且检测器5检测荧光强度。

通过上述结构，随着入射到流通池3的激励光Lex通过样品溶液S，激励光Lex被样品溶液S吸收和减弱。这意味着在流通池3中位于流通池3的纵向方向上中更远端的点处产生的荧光Lm(即，在远离激励光Lex的入射点的位置处产生的荧光Lm)将比在更邻近点(即，更靠近激励光Lex的入射点的点)处产生的荧光Lm强度更弱具有更小的强度。样品溶液S导致的激励光Lex的吸收和减弱随着样品浓度增加而变大。这意味着随着样品浓度增加，样品浓度和检测到的荧光强度之间的线性关系劣化。图6是示出了样品浓度和荧光强度之间关系的示意图。该图表明：随着样品浓度增加，点线从直线的偏离增加。

使用荧光检测器，一般的实践是使用已知浓度的标准样品的测量结果来提前制作校准曲线，且参考该校准曲线来确定未知样品的样品浓度。一般地，基于样品浓度和荧光强度之间的关系可以线性近似这一假设来制作校准曲线。这意味着上述二者关系之间关系的线性不良使计算出的浓度的准确性变差。具体而言，因为样品的荧光强度倾向于在较高浓度变得饱和，所以浓度值随着浓度增加而变得更不准确。最终导致测量的动态范围不足。

现有技术文献

专利文献：

专利文献1：未审查的日本专利申请公开2008-116424

发明内容

本发明的目的在于解决上述问题，且本发明的目的是提供一种即使对于高样品浓度也改善样品浓度和荧光强度之间的线性关系，从而改善了测量的动态范围的荧光检测器。

用于解决上述问题的本发明是一种荧光检测器，其包括：样品池，其用于保持样品；激励光学系统，其用激励光照射所述样品池；荧光测量光学系统，其用于检测样品响应于激励光而发出的荧光；荧光检测器包括荧光调节光学系统，在荧光调节光学系统中包括成对提供的光束限制装置和聚光装置，该光束限制装置具有在激励光在样品池中的通过方向上具有预定长度的孔径，并且该光束限制装置靠近所述样品池安装，以阻挡样品发出的但不通过孔径的荧光，聚光装置对通过光束限制装置的孔径的荧光进行会聚，并且将该荧光引导到荧光测量光学系统，以及该荧光检测器还包括用于更换或切换荧光调节光学系统使得孔径长度能够选自至少2种或更多种类型中的任意一种类型的机制。

此处，激励光学系统包括光源、激励侧分光仪等，且荧光测量光学系统包括荧光侧分光仪、光电检测器(光电倍增管等)等。样品池可以是流通池，样品溶液通过该流通池流动，或者可以是保持样品溶液的矩形池等。而且，样品池可以是允许来自激励光学系统的激励光仅在一个方向通过样品溶液的样品池，或者可以构造有反射镜，该反射镜位于与激励光入射侧相对的一侧，使得通过样品溶液的激励光被反射镜反射且再次以相反方向通过样品溶液(即，使得激励光来回通过样品溶液)。

使用根据本发明的荧光检测器，光束限制装置具有这样的孔径，无论该孔径长度如何，都可以允许从到所述样品池的激励光的入射侧发出的荧光通过所述孔径。而且，聚光装置具有不同的光学属性和光学布局，使得根据孔径的长度和位置而属性可能不同的激励光被正确地引导到荧光测量光学系统。作为一个示例，聚光透镜可以用作聚光装置。