[发明专利]荧光检测器有效
申请号: | 201010255284.0 | 申请日: | 2010-08-13 |
公开(公告)号: | CN101995399A | 公开(公告)日: | 2011-03-30 |
发明(设计)人: | 军司昌秀 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G01N21/01 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;王伶 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 荧光 检测器 | ||
1.一种荧光检测器,该荧光检测器包括:
样品池,其用于保持样品;
激励光学系统,其用激励光照射所述样品池;
荧光测量光学系统,其用于检测样品响应于激励光而发出的荧光;以及
荧光调节光学系统,其包含:光束限制装置,该光束限制装置具有在激励光在所述样品池中的通过方向上具有预定长度的孔径,并且该光束限制装置靠近所述样品池安装,以阻挡样品发出的但不通过所述孔径的荧光;聚光装置,其用于对通过光束限制装置的孔径的荧光进行会聚,并且将该荧光引导到所述荧光测量光学系统,所述光束限制装置和所述聚光装置成对地提供;以及更换机构,其用于更换或切换所述荧光调节光学系统,使得孔径长度能够选自至少2种或更多种类型中的任意一种类型。
2.根据权利要求1所述的荧光检测器,其中,所述光束限制装置包括这样的孔径,不管所述孔径长度如何,从到所述样品池的激励光的入射侧发出的荧光能够通过该孔径。
3.根据权利要求2所述的荧光检测器,其中,所述荧光调节光学系统是集成组件,使得通过更换所述组件能够选择至少两种或更多类型的所述孔径长度。
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