[发明专利]化合物和含有该化合物的光致抗蚀剂组合物无效
申请号: | 201010249208.9 | 申请日: | 2010-08-06 |
公开(公告)号: | CN101993395A | 公开(公告)日: | 2011-03-30 |
发明(设计)人: | 增山达郎;畑光宏 | 申请(专利权)人: | 住友化学株式会社 |
主分类号: | C07C271/28 | 分类号: | C07C271/28;C07C271/38;C07C271/22;C07C271/34;C07C271/36;C07C271/24;C07C269/06;C07D207/16;C07D211/60;C07D209/14;C07C323/59;C07C319/20;G03 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 柳春琦 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 化合物 含有 光致抗蚀剂 组合 | ||
技术领域
本发明涉及一种新的化合物和含有该化合物的光致抗蚀剂组合物。
背景技术
用于采用光刻法的半导体微型制造的光致抗蚀剂组合物含有酸生成剂,该酸生成剂包含通过辐照产生酸的化合物。
US 2003/0194639A1公开了一种包含2,6-二异丙基苯胺或氢氧化四丁基铵的光致抗蚀剂组合物。
发明内容
本发明的目的是提供一种新的化合物和含有该化合物的光致抗蚀剂组合物。
本发明涉及下列内容:
<1>一种由式(C1)表示的化合物:
其中Rc2表示具有至少一个硝基的C6-C10芳族烃基,并且所述芳族烃基可以具有除硝基以外的一个或多个取代基,并且Rc1表示由式(1)表示的基团:
其中Rc4表示氢原子,或表示直链、支链或环状C1-C6脂族烃基,Rc5表示可以具有选自由卤素原子,羟基,巯基(-SH),氨基和氨基甲酰基(-CONH2)组成的组中的一个或多个取代基的C1-C30二价烃基,并且所述二价烃基中的一个或多个-CH2-可以被-O-,-CO-,-S-或-NRc15-代替,其中Rc15表示氢原子或表示直链或支链C1-C4烷基,并且所述二价烃基中的一个或多个-CH=可以被-N=代替,并且RC4和RC5可以彼此结合以与RC4和RC5所结合的氮原子一起形成环,并且Rc3表示由式(3-1),(3-2)或(3-3)表示的基团:
其中Rc6,Rc7,Rc8,Rc9,Rc10,Rc11,Rc12,Rc13和Rc14各自独立地表示可以具有一个或多个羟基的C1-C30烃基,并且该C1-C30烃基中的一个或多个-CH2-可以被-O-,-CO-,-S-或-NRc16-代替,其中Rc16表示氢原子或表示直链或支链C1-C4烷基,并且Rc6和Rc7可以彼此结合以与Rc6和Rc7所结合的碳原子一起形成环,并且Rc9和Rc10可以彼此结合以与Rc9所结合的碳原子和Rc10所结合的氧原子一起形成环;
<2>根据<1>的化合物,其中Rc2是硝基苯基;
<3>根据<1>或<2>的化合物,其中Rc3是由式(3-1)表示的基团;
<4>根据<1>至<3>中任一项的化合物,其中Rc1是由式(1-1)或(1-2)表示的基团:
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