[发明专利]X8R特性片式多层陶瓷电容器的制备方法

权利要求书

1.一种X8R特性片式多层陶瓷电容器的制备方法，包括瓷浆制备、制作介质膜片、交替叠印内电极和介质层、切割、排胶、烧结、封端、烧端，其特征在于：

-所述的瓷浆制备步骤中，所用的钛酸钡结构瓷料中除主要成分BaTiO₃外，还包括次要成分为0.1-5wt％的Ca、Mg、Ce、La、Si、Y、Zr、Er、Ni、Nb氧化物中一种或两种以上混合，所用的溶剂是甲苯与无水乙醇重量比为0.5～2∶1的混合溶剂；

-所述的交替叠印内电极和介质层步骤中，内电极材料是镍内电极材料；

-所述的封端步骤中，端电极材料是铜端电极材料；

-所述的烧结步骤中，烧结温度为1220℃～1300℃，由升温段、高温烧成段、降温段、回火段组成，其中的回火段在含O₂的N₂气氛保护下进行的，O₂的体积含量是10ppm～100ppm，回火温度和时间是800℃-1050℃/2～3小时。

2.根据权利要求1所述的X8R特性片式多层陶瓷电容器的制备方法，其特征在于：所述的钛酸钡结构瓷料的粒颗度是0.35～1.55um的球形体或似球形体，比表面积为4.0-6.0％。

3.根据权利要求1所述的X8R特性片式多层陶瓷电容器的制备方法，其特征在于：所述的次要成分为：1-2wt％的Ni、Nb氧化物中的一种或两种以上混合；0.2-1wt％的Ca、Mg、Zr氧化物中的一种或两种以上混合；0.5-1wt％的Er氧化物；0.1-0.5wt％的Ce氧化物；0.1-0.5wt％的Y、La氧化物中的一种或两种以上混合。

4.根据权利要求1所述的X8R特性片式多层陶瓷电容器的制备方法，其特征在于：所述的镍内电极材料的镍粉粒度为0.1-0.4μm，内电极的镍重为5.0-7.0毫克/平方英寸。

5.根据权利要求1所述的X8R特性片式多层陶瓷电容器的制备方法，其特征在于：所述的排胶步骤中，排胶最高温度是270～290℃，总时间是57～60小时。

6.根据权利要求1所述的X8R特性片式多层陶瓷电容器的制备方法，其特征在于：所述烧结步骤中，升温段和高温烧成段是在含H₂的N₂气氛保护下进行的，H₂含量控制在气氛总量的0.05-5％。

7.根据权利要求1所述的X8R特性片式多层陶瓷电容器的制备方法，其特征在于：所述烧结步骤中，在900-1000℃开始至最高温段的升温速率控制在3-7℃/min。

8.根据权利要求1所述的X8R特性片式多层陶瓷电容器的制备方法，其特征在于：所述的烧端步骤是在含O₂的N₂气氛中分段进行的，其中，500℃以下是低温段，500℃到烧端最高温度为高温段，烧端最高温度是750～960℃，而且低温段中N₂气氛中的氧含量要高于高温段的N₂气氛中的氧含量。

9.根据权利要求8所述的X8R特性片式多层陶瓷电容器的制备方法，其特征在于：所述低温段N₂气氛中的氧含量为50-400ppm，高温段N₂气氛中的氧含量为0-50ppm。