[发明专利]电容成像的方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种成像的方法，特别是一种通过电容进行成像的方法。

背景技术

随着电容式触控技术的成熟，电容式传感器感应信号越来越强，从而感应精度不断提高。目前电容式触控板/屏已广泛运用于个人电脑、手机以及其它产品中。

目前，摄像头作为监控的数据获取设备已经广泛运用到生活中。譬如电梯，就外置了摄像头，以获取用户的影像资料，但是摄像头需裸露在外面，容易损坏，还影响美观。另外，摄像头摄取的影像资料数据量大。在摄取具有凹凸外观的产品时，摄像头往往因为角度或者光线的问题，导致不能反映出产品真正的外形特征。

因此亟需一种能够准确并快速成像的装置。

发明内容

针对现有技术的不足，本发明解决的技术问题是提供一种电容成像的方法，使得物体能够快速并准确地成像，并能清晰地反映物体真实轮廓的电容成像方法。

为解决上述技术问题，本发明的技术方案是这样实现的：一种电容式成像的方法，包括从多个角度扫描物体表面，并采集各扫描面的电容值数据，其特征在于，所述方法还包括以下步骤：以层为单位，计算差分电容值，若存在所述差分电容值大于等于第一阈值的点，则选出属于同一所述扫描面的差分电容值的最大值点，在各层确定成型区域；将各层的所述成形区域的差分电容值分别分布量化，分别绘制同层的封闭曲线，分别绘制同层的封闭曲线；逐层连接每层的所述封闭曲线，并成像。

本发明的有益效果如下：可以快速、精确地实现物体成像。

附图说明

图1是本发明实施例之架构示意图；

图2是本发明实施例之扫描示意图；

图3是本发明实施例之流程图；

图4是本发明实施例成形区域之示意图；

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步说明：

如图1所示，成像系统100包括：检测单元101、处理单元102和输出单元103。检测单元101，包括多个检测电极，用于检测一定空间内的电容值。处理单元102，用于接收检测单元101所发出的电容值数据，并处理该电容值数据，转换为影像数据。输出单元103用于接收该影像数据，并输出。

请参阅图2，检测单元101为一立方体，其4个侧面上布满了电容式电极，用来检测内部的电容值，物体200的横截面为椭圆，置于检测单元101中。故，检测单元101可以从4个角度扫描物体200，扫描完成后，可以得到4个扫描面的电容数据。这里仅是以检测单元102为一立方体为例，并不是用来限制其形状，检测单元102可以是封闭的造型，也可以是不封闭的造型。

请同时参阅图3、图4。检测单元101扫描物体200(301)，从而得到物体200所处空间的电容分布情况(303)。接着，以层为单位，计算差分电容值(305)，即沿着检测单元101的纵轴或横轴选取一定的长度，这里规定为一层，再进行计算，得出每个侧面上的差分电容值。根据每个侧面上的差分电容值，即可得到相应点的坐标。A、B、C、D四点分别为每个扫描面上差分电容的最大值点，比较该四点的差分电容值与第一阈值(307)，若该四点的差分电容值均大于等于第一阈值，则可以确定成形区域(309)为图4中虚线矩形区域；如果该四点的差分电容值均小于第一阈值，则判断为没有物体被扫描(308)。确定好成形区域后，再将差分电容值分布量化，并分别绘制同层的封闭曲线(311)，同层的封闭曲线根据物体的不同可能是一条或多条。绘制完成后，再根据坐标关系，逐层连接每层的封闭曲线，构成封闭体(313)，最后即可输出图像。

在确定成形区域时，需要确定A、B、C、D的具体坐标，本发明是这样实现的：在差分电容值满足大于等于第一阈值的情况下，E点相对于O点的坐标分别可由E点在扫描面1和扫描面2上的差分电容值计算出来。通过此方法，即可得出A、B、C、D四点的具体坐标，譬如B点的坐标可以由扫描面1和扫描面3，或者由扫描面3和扫描面4进行确定。这可以由用户自行指定。另外，第一阈值亦由用户指定，如此，即可避免系统运行的噪声或者其它物体的干扰。

在绘制同层的封闭曲线时，需要分布量化每个扫描面的差分电容值，即根据电容值的变化，得到其它点。譬如，连接A、D两点时，将差分电容值分布量化后，即可沿着物体200的轮廓线得到E点，以此类推，可以得到更多的点，从而使A、D两点之间的连线与物体的轮廓线相符。若某一扫描面上的一部分差分电容值均大于等于第一阈值且相等，即说明相应物体在该扫描面上的部分是平的，那只需将该部分直接相连即可。如此，即可在每一层均得到至少一个封闭曲线。