[发明专利]控制流式细胞计型测量系统的一个或多个参数的方法

权利要求书

1.一种用于控制流式细胞计型测量系统的一个或多个参数的方法，包括：

将测量系统的光电倍增管的电压设置为第一值和第二值；

在所述第一值和第二值下测量光电倍增管的输出电流；

根据第一值和第二值的对数与在第一值和第二值下的输出电流的对数的相对关系来确定光电倍增管的校准电压；

将该校准电压施加到所述光电倍增管；以及

测试所述光电倍增管以确定光电倍增管的一个或多个参数是否在预定的容差内，其中如果所述一个或多个参数被确定为在所述预定的容差之外，则该方法还包括：

使用所述校准电压来确定一新的校准电压；以及

重复前述确定、施加、测试、使用的步骤，直到所述一个或多个参数被确定为在所述预定的容差内。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定校准电压的步骤包括使用逐次逼近来确定校准电压。

3.权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一值包括一逼近所述光电倍增管输入电压范围的下限的电压值。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二值包括一逼近所述光电倍增管输入电压范围的上限的电压值。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试所述光电倍增管的步骤包括：

从处在所述校准电压下的所述光电倍增管收集数据；

对所收集数据求平均以确定一平均值；

将所述平均值和一目标平均值进行比较。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，如果所收集数据的所述平均值大致等于所述目标平均值，则所述测试步骤确定所述光电倍增管的所述一个或多个参数在所述预定的容差内。

7.如权利要求5所述的方法，其特征在于，如果所收集数据的所述平均值未大致等于所述目标平均值，则所述测试步骤确定所述光电倍增管的所述一个或多个参数不在所述预定的容差内。

8.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试所述光电倍增管的步骤包括：

从处在所述校准电压下的所述光电倍增管收集数据；

对所收集数据进行排序以确定一中值；以及

将所述中值和一目标中值进行比较。

9.如权利要求8所述的方法，其特征在于，如果所收集数据的所述中值大致等于所述目标中值，则所述测试步骤确定所述光电倍增管的所述一个或多个参数在所述预定的容差内。

10.如权利要求8所述的方法，其特征在于，如果所收集数据的所述中值未大致等于所述目标中值，则所述测试步骤确定所述光电倍增管的所述一个或多个参数不在所述预定的容差内。

11.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试所述光电倍增管的步骤包括：

从处在所述校准电压下的所述光电倍增管收集数据；

生成所收集数据的直方图；

计算所述直方图的峰值；以及

将所述直方图的所述峰值和一目标峰值进行比较。

12.如权利要求11所述的方法，其特征在于，如果所述直方图的所述峰值大致等于所述目标峰值，则所述测试步骤确定所述光电倍增管的所述一个或多个参数在所述预定的容差内。

13.如权利要求11所述的方法，其特征在于，如果所述直方图的所述峰值未大致等于所述目标峰值，则所述测试步骤确定所述光电倍增管的所述一个或多个参数不在所述预定的容差内。