[发明专利]质量控制装置及其控制方法无效

专利信息
申请号: 201010208498.2 申请日: 2005-04-30
公开(公告)号: CN101893880A 公开(公告)日: 2010-11-24
发明(设计)人: 杉原史郎;藤井彻;园峰男 申请(专利权)人: 欧姆龙株式会社
主分类号: G05B19/418 分类号: G05B19/418
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 谷惠敏;穆德骏
地址: 日本京都*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 质量 控制 装置 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种质量控制装置,控制设置在制造过程中的控制目标设备,以便制造预定质量的产品,所述装置包括:

存储模块,收集和存储设定成所述控制目标设备的目标值的控制值的设定值,作为由所述控制目标设备相对于该设定值测量的控制值的测量值的控制数据,以及由中间特性检查器测量的中间产品的中间特性数据;

中间特性推定模块,当存储在所述存储模块中的控制值的设定值变更时,推定中间特性数据的数据分布中的变动;

次品数推定模块,基于由所述中间特性推定模块推定的中间特性数据的数据分布中的变动和中间特性规格界限,推定次品的数量;

变更量确定模块,确定用于所述控制值的设定值的变更量,以使由所述次品数推定模块推定的次品的数量最小;以及

控制变更模块,基于由所述变更量确定模块确定的变更量,变更所述控制目标设备的控制值的设定值。

2.如权利要求1所述的质量控制装置,进一步包括用于存储影响度的影响度存储模块,所述影响度表示中间特性数据的数据分布中相对于控制数据的平均值变化的变动程度,

其中,所述中间特征推定模块基于在所述存储模块中存储的对控制值的设定值的变更量和在所述影响度存储模块中存储的影响度,推定中间特性数据的数据分布中的变动;以及

所述变更量确定模块,确定用于所述控制值的设定值的变更量,以使由所述次品数推定模块推定的次品的数量最小。

3.如权利要求2所述的质量控制装置,进一步包括影响度生成模块,当在对应于由所述变更量确定模块确定的所述控制值的设定值的变更量的所述中间特性数据的数据分布,和在所述控制变更模块变更控制后由所述存储模块收集的中间特性数据的分布之间,产生大于等于指定量的差值时,则生成影响度并将其存储在所述影响度存储模块中。

4.如权利要求1所述的质量控制装置,其中,所述存储模块进一步收集和存储由最终特性检查器测量的完成品的最终特性数据,所述装置进一步包括:

规格界限生成模块,基于在所述存储模块中存储的最终特性的数据分布和设定到所述最终特性检查器的最终特性规格界限,生成设定到所述中间特性检查器的中间特性规格界限;以及

所述次品数推定模块使用由所述规格界限生成模块生成的中间特性规格界限。

5.如权利要求1所述的质量控制装置,其中,所述存储模块存储所述控制数据和所述中间特性数据连同测量时间或收集时间,所述装置进一步包括:

关联模块,考虑在测量时间或收集时间在所述控制目标设备和所述中间特性检查器之间产生的空载时间,将所述控制数据和所述中间特性数据关联。

6.如权利要求1所述的质量控制装置,其中,从当所述控制变更模块变更控制的时候起经过了指定时段之后,所述中间特性推定模块通过使用由所述存储模块收集的中间特性数据,推定后续的中间特性数据的数据分布。

7.一种质量控制装置的控制方法,控制在制造过程中设置的控制目标设备以便制造预定质量的产品,

所述装置包括:

存储模块,收集和存储设定为所述控制目标设备的目标值的控制值的设定值,作为由所述控制目标设备相对于该控制值的设定值测量的控制值的测量值的控制数据,以及由中间特性检查器测量的中间产品的中间特性数据;以及

所述方法包括:

中间特性推定步骤,当存储在所述存储模块中的控制值的设定值变更时,推定中间特性数据的数据分布中的变动;

次品数推定步骤,基于在所述中间特性推定步骤推定的中间特性数据的数据分布中的变动和中间特性规格界限,推定次品的数量;

变更量确定步骤,确定用于所述控制值的设定值的变更量,以使在所述次品数推定步骤推定的次品的数量最小;以及

控制变更步骤,基于在所述变更量确定步骤确定的变更量,变更所述控制目标设备的控制值的设定值。

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