[发明专利]一种错误检查与纠正能力的测试方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及计算机及嵌入式领域，特别是涉及错误检查与纠正能力的测试方法及装置。

背景技术

Nand-flash是闪存的一种，其内部采用非线性宏单元模式，为固态大容量内存的实现提供了廉价有效的解决方案。Nand-flash具有成本较低、容量较大，改写速度较快等优点，适用于大量数据的存储，因而在业界得到了越来越广泛的认同。随着人们持续追求功耗更低、重量更轻和性能更佳的产品，Nand-flash被愈加广泛地应用于移动多媒体设备上，用于存储应用程序或在之上建立文件系统存储多媒体数据，如嵌入式产品中的数码相机、MP3(Moving PictureExperts Group Audio Layer III，动态影像专家压缩标准音频层面3)随身听、记忆卡等。

由于Nand-flash中存放的资料较多，结构相对复杂，出错的几率也相应增加，这样就会使程序和文件资源很容易遭到破坏。因此，必须对Nand-flash进行错误纠正。现在普遍采用错误检查与纠正(Error Checking and Correcting，ECC)算法对Nand-flash进行纠错。ECC算法是通过在原始的数据位基础上增加ECC数据(或称校验位)来实现的。对Nand-flash操作(读取或写入数据)时如果出现了ECC算法的纠错能力范围之内的错误，则ECC算法可以自动识别错误并将其更正，使系统得以持续正常的操作，这样就能大大提高使用Nand-flash运行的安全性及稳定性。

综上所述可以看出，ECC算法对于Nand-flash是否能安全稳定运行起着至关重要的作用。关于ECC算法的纠错能力，有理论上定义的纠错值，而对于ECC算法是否能达到此理论纠错值，现有技术中并未给出具体的测试方案。因此，需要对ECC算法的纠错能力进行测试评估，以判断ECC算法是否能达到其理论纠错值，满足纠错需求。

发明内容

本发明实施例提供一种ECC算法的纠错能力的测试方法，用于实现对ECC算法的纠错能力的测试，从而获知ECC算法是否能较好的完成纠错任务。

一种ECC算法纠正能力的测试方法，包括以下步骤：

根据ECC算法和正确的ECC数据对存在错误的测试数据进行纠错，获得纠错后的数据；所述正确的ECC数据是依据正确数据获得的；所述存在错误的测试数据是对正确数据制造错误后获得的；

将纠错后的数据与正确数据进行比对，并根据比对结果获知ECC算法的纠错能力。

一种ECC算法纠正能力的测试装置，包括：

ECC算法模块，用于根据ECC算法和正确的ECC数据对存在错误的测试数据进行纠错；所述正确的ECC数据是依据正确数据获得的；所述存在错误的测试数据是对正确数据制造错误后获得的；

校验模块，用于将纠错后的数据与正确数据进行比对，并根据比对结果获知ECC算法的纠错能力。

本发明实施例根据ECC算法和正确的ECC数据对存在错误的测试数据进行纠错，获得纠错后的数据；所述正确的ECC数据是依据正确数据获得的；所述存在错误的测试数据是对正确数据制造错误后获得的；将纠错后的数据与正确数据进行比对，可以获知ECC算法纠正了多少处错误，从而获知ECC算法是否能达到其理论纠错值，进而可以根据ECC算法的纠错能力选择与其相适应的Nand-flash，以提高Nand-flash运行的安全性及稳定性。并且，对于无法达到理论纠错值的ECC算法，可以采取测试等手段，检测可能出现纰漏之处并加以改进，以提高ECC算法的纠错能力。

附图说明

图1为本发明实施例中ECC纠错能力测试装置的主要结构图；

图2A为本发明实施例中ECC纠错能力测试装置的详细结构图；

图2B为本发明实施例中当获取ECC数据的过程用硬件实现时ECC纠错能力测试装置的详细结构图；

图3为本发明实施例中ECC纠错能力测试的主要方法流程图；

图4为本发明实施例中当获取ECC数据的过程用软件实现时ECC纠错能力测试的详细方法流程图；

图5为本发明实施例中当获取ECC数据的过程用硬件实现时ECC纠错能力测试的详细方法流程图；

图6为本发明实施例中对ECC数据制造错误时ECC纠错能力测试的详细方法流程图。

具体实施方式