[发明专利]一种错误检查与纠正能力的测试方法及装置有效
申请号: | 201010205606.0 | 申请日: | 2010-06-11 |
公开(公告)号: | CN102279776A | 公开(公告)日: | 2011-12-14 |
发明(设计)人: | 凌明 | 申请(专利权)人: | 无锡中星微电子有限公司 |
主分类号: | G06F11/10 | 分类号: | G06F11/10 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 黄志华 |
地址: | 214028 江苏省无锡市新区长江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 错误 检查 纠正 能力 测试 方法 装置 | ||
1.一种ECC算法纠正能力的测试方法,其特征在于,包括以下步骤:
根据ECC算法和正确的ECC数据对存在错误的测试数据进行纠错,获得纠错后的数据;所述正确的ECC数据是依据正确数据获得的;所述存在错误的测试数据是对正确数据制造错误后获得的;
将纠错后的数据与正确数据进行比对,并根据比对结果获知ECC算法的纠错能力。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,存在错误的测试数据包括:对正确的原始数据制造错误后获得的存在错误的原始数据和/或对正确的ECC数据制造错误后获得的存在错误的ECC数据。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,在根据ECC算法和正确的ECC数据对存在错误的测试数据进行纠错之前,还包括步骤:将第一ECC数据与第二ECC数据进行比较,其中第一ECC数据为正确数据对应的ECC数据,第二ECC数据为存在错误的测试数据对应的ECC数据;当第一ECC数据与第二ECC数据不同时,对第一ECC数据和第二ECC数据进行解码,获得解码后的正确数据和解码后的存在错误的测试数据,并将解码后的正确数据和解码后的存在错误的测试数据进行比较;
根据ECC算法和正确的ECC数据对存在错误的测试数据进行纠错的步骤包括:当有比特位不相同时,根据ECC算法和正确的ECC数据对存在错误的测试数据中的该比特位进行纠错。
4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,ECC数据是通过软件方式获得的,或者是通过硬件方式获得的。
5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,当ECC数据是通过硬件方式获得时,在获得ECC数据之前,还包括步骤:
将数据写入存储器;
通过硬件电路从存储器中获得数据,及根据ECC算法和获得的数据进行计算;
从硬件电路中获得ECC数据。
6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,将纠错后的数据与正确数据进行比对的步骤包括:
针对制造错误时记录的存在错误的比特位,将纠错后的数据与正确数据进行比对;或者
将纠错后的数据与正确数据按照比特位逐一进行比对。
7.如权利要求1所述的方法,其特征在于,在根据比对结果获知ECC算法的纠错能力之前,还包括步骤:
当纠错后的数据中第一比特位与正确数据中第二比特位的值一致时,确定第一比特位的值已被纠正正确;其中,第一比特位为制造过错误的比特位,第二比特位为与第一比特位相应位置的比特位;
当纠错后的数据中第一比特位与正确数据中第二比特位的值不一致时,确定第一比特位的值未被纠正;
当纠错后的数据中正确比特位与正确数据中相应位置的比特位的值不一致时,确定该本来正确的比特位的值被纠正成错误的值。
8.如权利要求7所述的方法,其特征在于,根据比对结果获知ECC算法的纠错能力的步骤包括:
根据第一比特位中已被纠正正确的比特位的数量与正确数据的比特数的比值获知ECC算法的纠错能力;和/或
根据第一比特位中未被纠正的比特位的数量与正确数据的比特数的比值获知ECC算法的纠错能力;和/或
根据本来正确且被纠正成错误的比特位的数量与正确数据的比特数的比值获知ECC算法的纠错能力;和/或
根据第一比特位中已被纠正正确的比特位的数量和本来正确且被纠正成错误的比特位的数量之和,与正确数据的比特数的比值,获知ECC算法的纠错能力。
9.一种ECC算法纠正能力的测试装置,其特征在于,包括:
ECC算法模块,用于根据ECC算法和正确的ECC数据对存在错误的测试数据进行纠错;所述正确的ECC数据是依据正确数据获得的;所述存在错误的测试数据是对正确数据制造错误后获得的;
校验模块,用于将纠错后的数据与正确数据进行比对,并根据比对结果获知ECC算法的纠错能力。
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