[发明专利]波形测试装置及其使用方法

权利要求书

1.一种波形测试装置，包括一电路板及一示波器，该电路板上设置有一接地面，该示波器包括若干探针，每一探针均包括一接地端，其特征在于：所述波形测试装置还包括若干接地装置，每一接地装置包括一接地部及一缠绕部，所述缠绕部一端套设在与其相应的接地端上，另一端连接至接地部上，所述接地部依次串接在一起，最后一接地部焊接至所述接地面上，使得所述接地端共地设置。

2.如权利要求1所述的波形测试装置，其特征在于：所述接地部为一金属环。

3.如权利要求1所述的波形测试装置，其特征在于：所述缠绕部呈螺旋形状，由导电材料制成。

4.如权利要求1所述的波形测试装置，其特征在于：所述电路板上设置有若干金属氧化物半导体场效应晶体管，每一探针均包括一探测端，每一探测端分别与所述金属氧化物半导体场效应晶体管上的测试点电性连接。

5.一种如权利要求1所述的波形测试装置的使用方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

将每一缠绕部分别穿过与其相应的探针，并连接在相应的接地端上，以与所述接地端电性连接；

依次将下一接地装置上的接地部穿过上一接地装置上的接地部，并露出该下一接地装置的接地部；

将最后一接地装置的接地部焊接至所述接地面上，以使每一探针的接地端共地设置。

6.如权利要求5所述的波形测试装置的使用方法，其特征在于，该方法还包括一将每一探针的探测端分别连接至一待测的测试点的步骤。