[发明专利]一种减少读取干扰的静态随机存储器无效
| 申请号: | 201010187375.5 | 申请日: | 2010-05-28 |
| 公开(公告)号: | CN102034531A | 公开(公告)日: | 2011-04-27 |
| 发明(设计)人: | 胡剑 | 申请(专利权)人: | 上海宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号: | G11C11/413 | 分类号: | G11C11/413 |
| 代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 郑玮 |
| 地址: | 201203 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 减少 读取 干扰 静态 随机 存储器 | ||
技术领域
本发明涉及一种半导体器件,尤其涉及一种减少读取干扰的静态随机存储器。
背景技术
集成电路之内的元件密度可以利用缩减空间的集成电路设计(reducedgeometry integrated circuit designs)原则,来增加集成电路的性能以及降低其实际成本。包含Flash、SRAM(静态随机存取存储器)、OUM、EEPROM、FRAM、MRAM等的现代集成电路存储器件都是利用此存数单元(memory cell)的原则的明显实例。集成电路存储器件内的密度正持续地增加,而与之伴随的是这类器件的单位存储成本的相应降低。密度的增加是利用在器件内制作较小的结构,以及利用缩减元件之间或构成元件的结构之间的分隔空间而完成的。通常,这类较小尺寸的设计准则(design rules)会伴随有布局,设计以及构造的修正,当使用这类较小尺寸的设计准则时,这些修正改变要通过缩减元件的大小才能实现,而且还要维持器件性能。作为一种实例,在多种现有的集成电路之中其操作电压的降低,是由于诸如缩减栅极氧化物厚度,以及增进微影程序控制上的误差才可能完成的。另一方面,缩减尺寸的设计准则也使得降低操作电压变成必要,以便小尺寸元件若以已有的较高操作电压操作时,得以限制所会产生的热载流子(hot carriers)。第一代SRAM模块采用大尺寸DIP封装,该封装具有一定的高度,因为电池和RAM芯片叠放于DIP封装之中。DIP封装的优点在于器件可以插入DIP插座,方便替换和存储,或从一个印制板转移到另一个。虽然这些优点至今仍非常有用,但相比之下,更有必要发展表面贴装技术,以及将工作电压由5V变为3.3V。第二代SRAM模块采用两片式方案——PowerCap模块(PCM),即由直接焊接到印刷板的基座(包含SRAM)以及PowerCap(也就是锂电池)两部分组成。与DIP模块相比,这类器件具有两个主要优点:它们采用表面贴装,并且具有标准引脚配置。换句话说,无论多大容量的SRAM,其封装和引脚数是相同的。因此,设计人员可以加大系统存储容量,而无须担心需要改变PCB布局。电池更换起来也很容易。第三代也就是最新的SRAM模块,它不但解决了先前产品所存在的问题,同时增加了更多功能。这类新型SRAM是单片BGA模块,内置可充电锂电池。和PCM一样,采用这种封装形式的所有SRAM无论其容量大小,封装尺寸和引脚配置都是相同的。此类模块采用表面贴装,并且是单片器件。因此设计更加坚固可靠,较上一代器件可承受更强的机械震动。由于电池是可充电的,因此数据保存时间的概念有了另外一层含义。用等效使用寿命一词来描述更为恰当,这类器件等效使用寿命可高达200年。另外,这种模块能承受+230℃的回流焊温度,而提供的无铅封装器件可承受+260℃的温度。
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