[发明专利]可执行冷测/热测的电子元件测试分类机

说明书

技术领域

本发明是提供一种可使电子元件在同一设备上一贯化执行冷测/热测作业，以有效缩减移料作业时间及元件配置，而提升测试产能及降低设备成本的测试分类机。

背景技术

电子元件可应用于不同电子设备，由于电子设备所处的环境可能为低温环境或高温环境，为确保电子元件的使用品质，在电子元件制作完成后，必须将电子元件移载至冷测机及热测机上，而分别进行冷测作业及热测作业，以淘汰出不良品。

请参阅图1，为坊间电子元件冷测机的示意图，其是在机台上配置有供料装置11、收料装置12、测试装置13、预冷盘14及输送装置15，所述供料装置11设有至少一料盘，用以盛装多个待测的电子元件，所述收料装置12设有至少一料盘，用以盛装多个完测的电子元件，测试装置13设有至少一测试座131，用以测试电子元件，预冷盘14是用以预冷待测的电子元件，所述输送装置15则在供料装置11、收料装置12、测试装置13及预冷盘14间输送待测/完测的电子元件，在执行冷测作业时，输送装置15是将待测的电子元件16先移载置入于预冷盘14内，所述预冷盘14即使待测的电子元件16预冷至所需测试温度(例如-20℃)，输送装置15再将预冷后的电子元件16移载至测试座131而执行冷测作业，故所述电子元件冷测机为一冷测专用机。

请参阅图2，为坊间电子元件热测机的示意图，其是在机台上配置有供料装置21、收料装置22、测试装置23、预热盘24及输送装置25，所述供料装置21设有至少一料盘，用以盛装多个待测的电子元件，所述收料装置22设有至少一料盘，用以盛装多个完测的电子元件，测试装置23设有至少一测试座231，用以测试电子元件，预热盘24是用以预热待测的电子元件，输送装置25则在供料装置21、收料装置22、测试装置23及预热盘24间输送待测/完测的电子元件，

在执行热测作业时，所述输送装置25是将待测的电子元件26先移载置入于预热盘24内，所述预热盘24即使待测的电子元件26预热至所需测试温度(例如80℃)，输送装置15再将预热后的电子元件26移载至测试座231而执行热测作业，故所述电子元件热测机为一热测专用机。

因此，目前业者欲执行电子元件的冷测作业及热测作业，是必须先将一批次的电子元件载送至冷测机，使待测电子元件在冷测机上执行冷测作业，当整批次的电子元件执行冷测作业完毕后，方才将整批次已完成冷测作业的良品电子元件移送至热测机进行热测作业；但是，由于现有的冷测机及热测机均为分别单机作业，以致业者需分别购置冷测机及热测机，不仅设备成本高，亦相当占用厂房空间，再者，业者必须等待该批次的电子元件执行完冷测作业后，方可将盛装良品电子元件的料盘由冷测机卸下，再载送至热测机，以供在料盘中取出电子元件执行热测作业，而无法以一贯化的方式自动接续进行冷测作业及热测作业，而难以有效提高测试的产能，为测试业界长期所存在的问题。

发明内容

本发明的目之一，是提供一种可执行冷测/热测的电子元件测试分类机，是在机台上配置有供料装置、收料装置、测试装置及输送装置，所述供料装置是容纳多个待测的电子元件，收料装置是容纳多个不同等级完测的电子元件，测试装置设有测试座，用以测试电子元件，所述输送装置则设有入料载台、出料载台、具取放器的移料臂及二具压取器的第一、二压接臂，用以输送待测/完测的电子元件，并在第一、二压接臂的压取器上方设有预温器，各预温器可视冷测/热测的作业温度，而变换预冷/预热待测的电子元件，使电子元件于测试座内执行冷测作业后，可接续执行热测作业；由此，可使电子元件在同一设备上一贯化执行冷测/热测作业，并有效缩减移料作业时间，达到提升测试产能的实用效益。

本发明的目之二，是提供一种可执行冷测/热测的电子元件测试分类机，所述输送装置则设有入料载台、出料载台、具取放器的移料臂及二具压取器的第一、二压接臂，用以输送待测/完测的电子元件，其中，第一压接臂是在压取器的上方设有预冷用的预温器，第二压接臂则在压取器的上方设有预热用的预温器，在使用时，第一压接臂可利用预冷用的预温器预冷待测的电子元件，使电子元件在测试座内执行冷测作业，在冷测作业完毕后，第一压接臂即脱离电子元件，而变换由第二压接臂利用预热用的预温器预热待测的电子元件，使电子元件在测试座内执行热测作业，并在测试完毕后，将完测电子元件移载至出料载台上，由此，可使电子元件于同一设备上一贯化执行冷测/热测作业，并有效缩减移料作业时间，达到提升测试产能的实用效益。