[发明专利]可执行冷测/热测的电子元件测试分类机

权利要求书

1.一种可执行冷测/热测的电子元件测试分类机，其特征在于，包含：

机台；

供料装置：是配置于所述机台上，用以容纳至少一待测的电子元件；

收料装置：是配置于所述机台上，用以容纳至少一完测的电子元件；

测试装置：是配置于所述机台上，并设有具至少一测试座的测试电路板，用以测试电子元件；

输送装置：是配置于所述机台上，并在所述测试装置的前、后方各设有至少一载台，用以载送电子元件，另设有至少一移料臂及压接臂，所述移料臂设有取放器，用以移载电子元件，而所述压接臂则设有压取器，用以移载及压抵电子元件，并在所述压取器的上方设有预温器，所述预温器用于预冷/预热待测的电子元件，使待测的电子元件在所述测试座内变换执行冷测/热测作业；

中央控制单元：是用以控制及整合各装置动作，以执行自动化作业。

2.根据权利要求1所述的可执行冷测/热测的电子元件测试分类机，其特征在于，所述供料装置设有至少一料盘，用以承置待测的电子元件。

3.根据权利要求1所述的可执行冷测/热测的电子元件测试分类机，其特征在于，所述收料装置设有多个料盘，用以承置不同测试结果的完测电子元件。

4.根据权利要求1所述的可执行冷测/热测的电子元件测试分类机，其特征在于，所述输送装置的压接臂的预温器是在一框座内设有致冷晶片，用以预冷/预热电子元件。

5.根据权利要求1所述的可执行冷测/热测的电子元件测试分类机，其特征在于，所述输送装置的压接臂的预温器是在一框座内设有流路，所述流路的一端设有输入管，并以所述输入管连接冷源供应器及热源供应器，用以输入冷源或热源，而变换预冷/预热电子元件，流路的另一端则设有输出管，用以输出冷源或热源。

6.一种可执行冷测/热测的电子元件测试分类机，其特征在于，包含：

机台；

供料装置：是配置于所述机台上，用以容纳至少一待测的电子元件；

收料装置：是配置于所述机台上，用以容纳至少一完测的电子元件；

测试装置：是配置于所述机台上，并设有具至少一测试座的测试电路板，用以测试电子元件；

输送装置：是配置于所述机台上，并在所述测试装置的前、后方各设有至少一载台，用以载送电子元件，另设有至少一移料臂及具压取器的第一、二压接臂，所述移料臂设有取放器，用以移载电子元件，所述第一压接臂是在所述压取器的上方设有预冷用的预温器，所述预冷用的预温器用于预冷电子元件，使待测的电子元件于测试座内执行冷测作业，而所述第二压接臂是在所述压取器的上方设有预热用的预温器，所述预热用的预温器用于预热电子元件，使待测的电子元件在所述测试座内执行热测作业；

中央控制单元：是用以控制及整合各装置动作，以执行自动化作业。

7.根据权利要求6所述的可执行冷测/热测的电子元件测试分类机，其特征在于，所述供料装置设有至少一料盘，用以承置待测的电子元件。

8.根据权利要求6所述的可执行冷测/热测的电子元件测试分类机，其特征在于，所述收料装置设有多个料盘，用以承置不同测试结果的完测电子元件。

9.根据权利要求6所述的可执行冷测/热测的电子元件测试分类机，其特征在于，所述输送装置的第一压接臂的预温器是在一框座内设有致冷晶片，用以预冷电子元件，所述第二压接臂的预温器亦在一框座内设有致冷晶片，用以预热电子元件。

10.根据权利要求6所述的可执行冷测/热测的电子元件测试分类机，其特征在于，所述输送装置的第一压接臂的预温器是在一框座内设有流路，所述流路的一端是设有输入管，并以输入管连接冷源供应器，用以输入冷源，而预冷电子元件，流路的另一端则设有输出管，用以输出冷源，所述第二压接臂的预温器是在一框座内设有流路，所述流路的一端是设有输入管，并以输入管连接热源供应器，用以输入热源，而所述预热电子元件，流路的另一端则设有输出管，用以输出热源。