[发明专利]半导体结构及其制造方法无效
| 申请号: | 201010182999.8 | 申请日: | 2010-05-18 |
| 公开(公告)号: | CN102254840A | 公开(公告)日: | 2011-11-23 |
| 发明(设计)人: | 张文雄 | 申请(专利权)人: | 宏宝科技股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;H01L23/58 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 邱军 |
| 地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 半导体 结构 及其 制造 方法 | ||
1.一种半导体结构的制造方法,包括:
提供半导体基底,该半导体基底具有有源表面与背面,其中该有源表面与该背面相对,且该半导体基底包括至少一接地垫,该接地垫配置于该有源表面上;
从该背面形成至少一硅通孔于该半导体基底中,以暴露出该接地垫;以及
于该半导体基底的该背面形成导电层,其中该导电层填入该硅通孔内而同时与该半导体基底及该接地垫电性连接。
2.如权利要求1所述的半导体结构的制造方法,其中在形成该硅通孔之前,还包括将该半导体基底的该有源表面粘着于承载板上。
3.如权利要求2所述的半导体结构的制造方法,其中在形成该导电层后,还包括将该半导体基底与该承载板分离。
4.如权利要求3所述的半导体结构的制造方法,其中该半导体基底还包括至少一电源/信号垫,配置于该有源表面上,且在将该半导体基底与该承载板分离后,还包括对该电源/信号垫进行引线工艺。
5.一种半导体结构,包括:
半导体基底,具有有源表面、背面以及至少一硅通孔,其中该有源表面与该背面相对,且该半导体基底包括至少一接地垫,配置于该有源表面上,该硅通孔自该背面贯穿至该有源表面而暴露出该接地垫;以及
导电层,配置于该半导体基底的该背面而填入该硅通孔内,以同时与该接地垫及该半导体基底电性连接。
6.如权利要求5所述的半导体结构,其中该半导体基底还包括至少一电源/信号垫,配置于该有源表面上。
7.如权利要求6所述的半导体结构,其中该电源/信号垫相对该接地垫邻近该半导体基底的边缘。
8.如权利要求5所述的半导体结构,其中该导电层的材料包括铜或铝。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





