[发明专利]光学检测装置无效
申请号: | 201010181077.5 | 申请日: | 2010-05-24 |
公开(公告)号: | CN102262348A | 公开(公告)日: | 2011-11-30 |
发明(设计)人: | 何金民 | 申请(专利权)人: | 深圳富泰宏精密工业有限公司 |
主分类号: | G03B43/00 | 分类号: | G03B43/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 检测 装置 | ||
技术领域
本发明涉及一种光学检测装置,尤其涉及一种用以检测摄像模块的光学检测装置。
背景技术
手机等便携式电子装置大多设有摄像功能。为了保证手机等电子装置的摄像性能,于生产过程中需对摄像模块的拍摄效果进行检测。由于摄像模块在拍摄过程中会发热,当连续拍摄多幅图片时,摄像模块经常需要在高于一般气温的相对高温状态下(通常为40-60℃)工作。此时,镜片或者影像传感器的热膨胀可能使得拍摄效果受到影响。因此,在检验摄像模块质量时,不仅需要在常温状态对摄像模块的拍摄性能进行检测,还需在相对高温状态下对摄像模块的拍摄性能进行检测。
现有在高温下检测摄像模块质量的方法一般是将摄像模块组装完毕后再进行加热,然后检测其图像拍摄质量。然而,此种方法无法对摄像模块中每个组件如镜头或者影像传感器等分别进行高温环境下的性能测试。若摄像模块在高温环境下的拍摄质量不合格,则该现有方法无法确定是摄像模块中的哪个组件存在问题,即使实际上只有一个组件的高温工作性能不合格而其他组件是合格的,也只能将摄像模块整体报废,造成较大的浪费。
发明内容
有鉴于此,有必要提供一种可分别检测高温状态下摄像模块的各个摄像组件的性能的光学检测装置。
一种光学检测装置,用以测试一摄像组件,所述光学检测装置包括一图像装置、一主机、一温控装置及一测试辅助组件,该温控装置用以提供一高温环境,所述测试辅助组件与摄像组件均装设于温控装置内,共同完成一摄像模块的拍摄功能,所述测试辅助组件与摄像组件拍摄的图像被传送至主机,主机根据拍摄的图像判断测试的摄像组件是否合格。
相较于现有技术,该光学检测装置,其利用一温控装置模拟高温环境,并对应不同的待测摄像组件相应提供一高温状态下性能亦合格的辅助测试组件,用以与待测摄像组件配合而进行拍摄测试,并通过拍摄效果判断待测摄像组件的性能,从而分别对各摄像组件进行测试。
附图说明
图1为本发明第一实施例的光学检测装置用于检测镜头的示意图。
图2为本发明第二实施例的光学检测装置用于检测影像传感器的示意图。
主要元件符号说明
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