[发明专利]光学检测装置无效

专利信息
申请号: 201010181077.5 申请日: 2010-05-24
公开(公告)号: CN102262348A 公开(公告)日: 2011-11-30
发明(设计)人: 何金民 申请(专利权)人: 深圳富泰宏精密工业有限公司
主分类号: G03B43/00 分类号: G03B43/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 光学 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种光学检测装置,用以测试一摄像组件,其特征在于:所述光学检测装置包括一图像装置、一主机、一温控装置及一测试辅助组件,该温控装置用以提供一高温环境,所述测试辅助组件与摄像组件均装设于温控装置内,共同完成一摄像模块的拍摄功能,所述测试辅助组件与摄像组件拍摄的图像被传送至主机,主机根据拍摄的图像判断测试的摄像组件是否合格。

2.如权利要求1所述的光学检测装置,其特征在于:所述主机包括一图像识别软件,用以计算测试辅助组件与摄像组件拍摄的图像的分辨率,该主机根据拍摄的图像的分辨率判断测试的摄像组件是否合格。

3.如权利要求2所述的光学检测装置,其特征在于:所述主机还包括一与图像识别软件电性连接的核心芯片,该核心芯片预设一理想分辨率及可容许的偏差范围,并将图像识别软件计算的分辨率与预设的理想分辨率进行比较,并根据两者的差值与预设的可容许偏差范围来判断对应测试的摄像组件是否合格。

4.如权利要求3所述的光学检测装置,其特征在于:所述核心芯片将摄像组件及测试辅助组件装设于常温状态下的温控装置内时,该测试辅助组件与摄像组件拍摄的图像的分辨率作为上述理想分辨率。

5.如权利要求2所述的光学检测装置,其特征在于:所述图像装置为一投影装置,用以提供一国际标准分辨率测试图案。

6.如权利要求2所述的光学检测装置,其特征在于:所述图像装置为一国际标准分辨率测试卡。

7.如权利要求6所述的光学检测装置,其特征在于:所述图像装置置于温控装置外侧,温控装置上对应图像装置及摄像模块的中心开设一通光孔,该通光孔及测试卡的中心与测试辅助组件及被测试的摄像组件的光轴处于同一直线上。

8.如权利要求1所述的光学检测装置,其特征在于:所述摄像组件为镜片或镜头时,辅助测试组件为一经过现有测试方法,在高温状态下性能亦保持合格的影像传感器。

9.如权利要求1所述的光学检测装置,其特征在于:所述摄像组件为影像传感器时,辅助测试组件为一经过现有测试方法,在高温状态下性能亦保持合格的镜片或镜头。

10.如权利要求1所述的光学检测装置,其特征在于:所述光学检测装置还包括一置于温控装置外侧的控制端,该控制端控制辅助测试组件与摄像组件拍摄。

11.如权利要求1所述的光学检测装置,其特征在于:所述图像装置采用耐高温材料制成。

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