[发明专利]内置式线路测试方法

权利要求书

1.用于测试包括可编程逻辑电路(2)的输入/输出引脚(3)的线路(5)的方法，所述线路(5)包括：从该输入/输出引脚(3)延伸到外围元件(4)的至少一条独立线(1)，所述输入/输出引脚(3)能够处在逻辑高电平或者处在与该逻辑高电平相反的逻辑低电平，所述方法包括以下步骤：

-在初始驱动时刻(tpi)和最终驱动时刻(tpf)之间，用于驱动该输入/输出引脚(3)的步骤，在该步骤中在该输入/输出引脚(3)的接线端施加驱动电压(UP)，

其特征在于该方法还包括以下步骤：

-从最终驱动时刻(tpf)起用于测量该输入/输出引脚(3)的电平的步骤，在该步骤期间不再驱动该引脚并且在该步骤期间在至少一个测量时刻(tMi)针对该输入/输出引脚(3)记录下测得的逻辑电平(LMi)，

-在该(相应)测量时刻将测得的逻辑电平(LMi)与理论逻辑电平相比较，在该理论逻辑电平时该输入/输出引脚(3)应当处于该(相应)测量时刻(tMi)而没有任何线路故障，

-当在测量时刻测得的至少一个逻辑电平与所述测量时刻的理论逻辑电平不同时，线路故障被检测出。

2.根据前述权利要求所述的用于测试线路(5)的方法，其特征在于：该方法定义为，当该输入/输出引脚(3)未被驱动时：

-当其接线端电压大于最小高电平输入电压(VIH)时，其处在逻辑高电平，当其接线端电压小于最大低电平输入电压(VIL)时，其处在逻辑低电平，

-当其在稳态工作时，即，当其接线端施加恒定电压(Uperm)时，其处在第一逻辑电平(L1)，该第一逻辑电平的值取决于该恒定电压(Uperm)的值，

并且在于：选择在该测试方法的驱动阶段期间所施加的驱动电压(UP)的值，以便将该引脚置于与该第一逻辑电平(L1)相反的第二逻辑电平(L2)，

-在测量阶段，该线路(5)形成RC电路以使该输入/输出引脚(3)的接线端的理论电压(UBT(t-tpf))以理论无驱动时间常数(τnp)从该驱动电压(UP)变化到该恒定电压(Uperm)，

-在该引脚的理论电压(UBT(tMi-tpf))没有处在最大低电平输入电压

(VIL)和最小高电平输入电压(VIH)之间时的至少一个测量时刻(tMi)，记录该输入/输出引脚(3)的测得的逻辑电平(LMi)。

3.根据前述权利要求所述的用于测试线路(5)的方法，其特征在于：该RC电路的理论无驱动时间常数(τnp)等于该RC电路的理论电阻(R)与理论电容(C)的乘积。

4.根据前述权利要求所述的用于测试线路(5)的方法，其特征在于：该RC电路的理论电阻(R)与理论电容(C)在无驱动和无线路故障的情况下分别等于该线路的电阻和电容，或者分别等于这些值的近似值。

5.根据权利要求2到4中任一项所述的用于测试线路(5)的方法，其特征在于：在该理论逻辑电平为该第二逻辑电平(L2)的至少一个测量时刻以及在该理论逻辑电平等于该第一理论逻辑电平(L1)的至少一个测量时刻，记录所测得的逻辑电平(LMi)。

6.根据前述权利要求所述的用于测试线路(5)的方法，其特征在于：在该理论逻辑电平为该第二逻辑电平(L2)的至少两个测量时刻以及在该理论逻辑电平等于该第一理论逻辑电平(L1)的至少两个测量时刻，记录所测得的逻辑电平(LMi)。

7.根据权利要求5或6中任一项所述的用于测试线路的方法，其特征在于：当检测到该故障时，该方法还包括用于根据在相应测量时刻所测得的逻辑电平和该理论电平来确定该故障的原因的步骤。

8.根据权利要求7所述的用于测试线路的方法，其特征在于：在该理论逻辑电平为该第二逻辑电平(L2)的第一时刻(tM1)和之后的第二时刻(tM2)，然后在该理论逻辑电平为该第一理论逻辑电平(L1)的第三时刻(tM3)和第四时刻(tM4)，记录该引脚的逻辑电平，并且，如果所测得的逻辑电平相对于该理论逻辑电平分别延迟或提前从该第二逻辑电平变化到该第一逻辑电平，则将该故障的原因归结为该线路的第二实际时间常数分别大于或小于该线路的理论时间常数的事实。