[发明专利]一种继电器触点上的电压降的间接测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及继电器测试技术领域，是一种继电器触点闭合后，测试电流在触点上的电压降的方法，使用本发明方法在不损失准确性基础上大大提高了测试的安全性。

背景技术

目前，在电力电子设备中广泛使用继电器进行电源控制，准确测出继电器触点上的电压降和流过的电流就能计算出触点上产生的热耗，这样可以方便进行可靠性分析。电流的测试比较容易，电压降的测试就困难多了，从设备外部无法直接测试，从设备内部测试，需要把电压表表笔直接与继电器的触点连接，这种操作，对装配完好的设备非常不方便、不安全。

发明内容

本发明的目的是提出一种继电器触点上的电压降的间接测试方法，以便准确测试电源控制中继电器触点上的电压降，可以从设备外部进行间接测试，测试结果准确可信，测试过程安全、方便。

为达到上述目的，本发明的技术解决方案是：

一种电源控制中继电器触点上的电压降间接测试方法，其包括步骤：

A)在设备外部设置一测试电路；

B)测试出从28V正输入端到负载正端的电压降U_P；

C)测试出负载负端到28V输入负端的电压降U_N；

D)将B)步、C)步所得结果相减：U_P-U_N得继电器触点上的电压降U_C。

所述的继电器触点上的电压降间接测试方法，其所述设备外部设置一测试电路，是在测试设备放四个接线柱，28V直流电源正端与第一个接线柱(Test point 1)、电源控制设备28V Input相连，负端与第四个接线柱(Test point4)、电源控制设备28V Input RTN相连，负载正端与第二个接线柱(Test point 2)、电源控制设备28V Output相连，负载负端端与第三个接线柱(Test point 3)、电源控制设备28V Output RTN相连；当设备正常工作时分别测出第一个接线柱(Test point 1)到第二个接线柱(Test point 2)电压降U_P、第三个接线柱(Test point3)到第四个接线柱(Test point 4)电压降U_N，两者的差即为继电器触点上的电压降U_C。

所述的继电器触点上的电压降间接测试方法，其所述电压降U_P由导线上电压降和继电器触点上的电压降两部分组成；

在整个电流路径中从28V正输入端到负载正端的导线长度与回线的导线长度相等，所以导线上的电压降也认为是相等的。

本发明间接测试方法的优越之处在于从设备外部测试，不需要打开机箱，不接触内部电路，没有安全性隐患，只需在设备外部做一个简单测试电路，通过连接器与设备连接就可以测试了。本发明间接测试方法对于分析大功率、大电流的电路设计更有实用意义。

附图说明

图1是本发明的一种继电器触点上的电压降的间接测试方法原理图；

图2是本发明的一种继电器触点上的电压降的间接测试方法实施例示意图；其中：连接器1、2。

具体实施方式

下面结合附图和实例对本发明进一步说明。

在电源控制电路中，电流从28V输入端流入经过一段导线到达继电器的输入触点，然后从继电器的输出触点流到负载的正输入端，并从负载流出，经过28V回线最后从28V输入端负端流出。在整个电流路径中从28V正输入端到负载正端的导线长度基本上与回线的导线长度相等，所以导线上的电压降也可以认为是相等的，从28V正输入端到负载正端的电压降U_P由导线上电压降和继电器触点上的电压降两部分组成，只有测试出U_P和负载负端到28V输入负端的电压降U_N，两者相减就得出继电器触点上的电压降U_C，U_C＝U_P-U_N。