[发明专利]一种继电器触点上的电压降的间接测试方法无效
| 申请号： | 201010168292.1 | 申请日： | 2010-04-22 |
| 公开（公告）号： | CN102193017A | 公开（公告）日： | 2011-09-21 |
| 发明（设计）人： | 吴玉田;张平;禹卫东 | 申请（专利权）人： | 中国科学院电子学研究所 |
| 主分类号： | G01R19/00 | 分类号： | G01R19/00;G01R31/327 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 周国城 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 继电器 触点 电压 间接 测试 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种电源控制中继电器触点上的电压降间接测试方法，其特征在于，包括步骤：
A)在设备外部设置一测试电路；
B)测试出从28V正输入端到负载正端的电压降UP；
C)测试出负载负端到28V输入负端的电压降UN；
D)将B)步、C)步所得结果相减：UP-UN得继电器触点上的电压降UC。
2.如权利要求1所述的继电器触点上的电压降间接测试方法，其特征在于，所述设备外部设置一测试电路，是在测试设备放四个接线柱，28V直流电源正端与第一个接线柱、电源控制设备28V Input相连，负端与第四个接线柱、电源控制设备28V Input RTN相连，负载正端与第二个接线柱、电源控制设备28V Output相连，负载负端端与第三个接线柱、电源控制设备28V Output RTN相连；当设备正常工作时分别测出第一个接线柱到第二个接线柱电压降UP、第三个接线柱到第四个接线柱电压降UN，两者的差即为继电器触点上的电压降UC。
3.如权利要求1所述的继电器触点上的电压降间接测试方法，其特征在于，所述电压降UP由导线上电压降和继电器触点上的电压降两部分组成；
在整个电流路径中从28V正输入端到负载正端的导线长度与回线的导线长度相等，所以导线上的电压降也认为是相等的。
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