[发明专利]光拾取器装置及使用其的光盘装置

说明书

技术领域

本发明涉及光拾取器装置、光盘装置。

背景技术

作为本技术领域的背景技术，例如存在日本专利特开2006-344344号公报(专利文献1)。在本公报中记载有“从具有多个记录层的光盘精度良好地取得所希望的信号”。此外，例如存在日本专利特开2006-344380号公报(专利文献2)。在本公报中记载有”具有2面信息记录面的能够记录的光记录介质的情况下，检测杂散光少的跟踪误差信号”。进一步，例如在非专利文献1中记载有“在另一层没有杂散光的区域配置追踪用光检测器(photo detector)”，对于该构成在特开2004-281026(专利文献3)中也有记载。

此外，例如存在特开2008-102998号公报(专利文献4)。在本公报中记载有“以光盘的目标信息记录层上对准焦点的情况下，来自目标信息记录层的反射光束在光检测器的受光部上对准焦点，来自目标信息记录层以外的信息记录层的反射光束以不照射在光检测器的受光部的方式，构成分割元件的各区域和光检测器的受光部。”。

专利文献1特开2006-344344号公报

专利文献2特开2006-344380号公报

专利文献3特开2004-281026号公报

专利文献4特开2008-102998号公报

非专利文献1电子信息通信学会信学技报CPM2005-149(2005-10)

发明内容

近年来，存在如下问题：在记录层被多层化的光盘的记录或再现时，在不是再现的对象的记录层反射的杂散光向光检测器面入射从而成为干扰成分，使光检测器的检测信号发生变动。特别地在记录层被多层化为3层以上的光盘中，在多个层中发生无用光束，因此干扰成分增加从而上述检测信息的变动进一步增大。对于上述问题，在专利文献4中，设置具有多个区域的分割元件，将由光盘反射的光束分割为出射方分割为出射方向不同的多个光束，由此来分离杂散光和信号光，而抑制检测信号的变动。

但是，在上述结构中，存在如下问题，即，需要对在DPP方式的跟踪误差信号中所使用的信号进行10倍左右的信号放大，使得由不能完全分离而少量残留的杂散光引起的信号摆动成分、损伤和污染等干扰成分大幅放大。其结果，被放大后的干扰成分漏入DPP信号，难以得到稳定且高品质的记录或再现品质。

本发明的目的在于，提供一种光拾取器装置和光盘装置，能够抑制电信号放大并生成DPP信号，大幅降低干扰成分向检测信号的泄漏，能够得到稳定且高品质的记录或再现品质。

上述目的，作为一个例子能够由本发明的技术范围中记载的发明来完成。

本发明的光拾取器装置，包括，激光光源；使从该激光光源射出的激光光束汇聚在光盘上的物镜；将由光盘反射的信号光束分割成多个光束的光束分割元件；和具有用于分别接受被分割成多个的所述信号光束的受光面的光检测器，利用所述光检测器，对由所述光束分割元件分割的信号光束中除去推挽信号区域的光束周边部的区域的光进行检测，使用来自所述光束周边部的光的检测信号，对作为跟踪误差信号的DPD信号进行检测。

另外，本发明另一方面的光拾取器装置，其特征在于：包括，激光光源；使从该激光光源射出的激光光束汇聚在光盘上的物镜；将由光盘反射的信号光束分割成多个光束的光束分割元件；和具有用于分别接受被分割成多个的光束的受光面的光检测器，作为跟踪误差信号仅对DPP信号进行检测。

根据本发明，提供一种光拾取器装置和光盘装置，能够降低对检测信号的杂散光的影响，能够检测高品质的信号。

附图说明

图1是表示本发明的光拾取器装置的结构例的概略图。

图2是表示现有例的光束分割元件的概略图。

图3是表示现有例的光检测器的结构的概略图。

图4是表示第一实施例的光束分割元件的概略图。

图5是表示第一实施例的光检测器的结构的概略图。

图6是表示第二实施例的光检测器的结构的概略图。

图7是表示第三实施例的光束分割元件的概略图。

图8是表示第三实施例的光检测器的结构的概略图。

图9是表示第四实施例的光检测器的结构的概略图。

图10是表示第五实施例的光检测器的结构的概略图。

图11是表示本发明的光盘装置的结构例的概略图。

符号说明

1激光光源

2激光光束

3偏光分束器

4步进发达

5准直(collimate)透镜

61/4波长板

7物镜

8光盘