[发明专利]透射式尺寸测量装置

权利要求书

1.透射式尺寸测量装置，包括：

投射光的投影仪；以及

光学接收器，光学接收器被布置为与投影仪之间具有预定的间隔，并且接收来自投影仪的光，

该透射式尺寸测量装置基于光学接收器所接收到的接收光量的变化来测量通过投影仪和光学接收器之间的被测物体的尺寸，

所述投影仪包括：

实质上成长方体形状的投影仪外壳，其中设有发出光的发光元件，和将发光元件发出的光转换成平行光的光投影透镜；以及

光透影狭缝，其具有在尺寸测量方向上具有预定宽度的形状，所述尺寸测量方向是实质上与发出平行光的投影仪外壳的底面水平的方向，

所述光学接收器包括：

实质上成长方体形状的光学接收器外壳，其中设有接收光的光接收元件；以及

光接收狭缝，其具有在尺寸测量方向上具有预定宽度的形状，所述尺寸测量方向是实质上与平行光入射到其上的光学接收器外壳的底面水平的方向，所述透射式尺寸测量装置包括：

入射光位置显示单元，其沿着尺寸测量方向布置在投影仪和光学接收器的至少一侧，该入射光位置显示单元包括多个指示灯，每个指示灯显示每个区域的光接收状态，所述每个区域在光接收狭缝的尺寸测量方向上划分了预定的宽度；并且该入射光位置显示单元显示平行光入射到光学接收器上的位置。

2.根据权利要求1所述的透射式尺寸测量装置，其中

光接收狭缝设置在一个以与光学接收器外壳的底面成直立状态实质上垂直布置的侧表面上，

入射光位置显示单元设置在与光学接收器外壳的底面相对的上表面侧，以使得入射光位置显示单元的尺寸测量方向上的宽度与尺寸测量区域的宽度实质上相同，以及

多个指示灯中的每一个基于每个区域的接收光量而点亮或者关闭。

3.根据权利要求1或2所述的透射式尺寸测量装置，进一步包括操作模式设置单元，其接受多个操作模式的设置，所述多个操作模式基于由于被测物体导致的平行光的光遮挡位置来选择要作为测量值输出的测量区域，其中，

与操作模式设置单元所设置的操作模式相对应的测量值被输出。

4.根据权利要求3所述的透射式尺寸测量装置，进一步包括测量位置显示单元，该测量位置显示单元包括多个沿着入射光位置显示单元布置的指示灯，其中

对测量位置显示单元进行配置，以使得与要作为测量值输出的测量区域相对应的指示灯响应于操作模式设置单元所设置的操作模式而点亮或者关闭。

5.根据权利要求3所述的透射式尺寸测量装置，其中

对入射光位置显示单元进行配置，以使得与要作为测量值输出的测量区域相对应的指示灯响应于操作模式设置单元所设置的操作模式来以与位于平行光的入射光位置的指示灯的显示模式不同的显示模式点亮。

6.根据权利要求1所述的透射式尺寸测量装置，其中

用于使入射光位置显示单元的每一个指示灯点亮的由光接收元件所接收到的接收光量的阈值被设置为比用于检测作为尺寸测量的基准的边缘位置的接收光量的阈值高。

7.根据权利要求1所述的透射式尺寸测量装置，进一步包括：

光轴调节模式设置单元，其接受用于使投影仪和光接收器的光轴重合的光轴调节模式的设置，其中

当光轴调节模式被设置时，入射光位置显示单元被切换到用于显示光接收元件所接收到的接收光量的峰值位置的显示模式。

8.根据权利要求1所述的透射式尺寸测量装置，进一步包括：

光轴重合显示单元，其显示投影仪和光学接收器的尺寸测量区域中的光轴是否与投影仪和光接收器中的至少一个的光轴重合。

9.根据权利要求1所述的透射式尺寸测量装置，其中

在与投影仪的底面相对的上表面和形成有光投影狭缝的前表面的一个转角部分，以及在与光学接收器的底面相对的上表面和形成有光接收狭缝的前表面的一个转角部分中的至少一个处形成一个倾斜部分，以及

所述倾斜部分形成有入射光位置显示单元。