[发明专利]GMSK调制装置及方法有效

专利信息
申请号: 201010153092.9 申请日: 2010-04-20
公开(公告)号: CN101834818A 公开(公告)日: 2010-09-15
发明(设计)人: 叶晖;梁晓峰 申请(专利权)人: 广州市广晟微电子有限公司
主分类号: H04L25/03 分类号: H04L25/03;H04L27/20
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 逯长明
地址: 510630 广东省广州市天*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: gmsk 调制 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种GMSK调制装置,其特征在于,包括:第一数据处理模块、第一数据生成模块、第二数据生成模块、数据获取模块和第二数据处理模块;

所述第一数据处理模块,用于依据接收到的基带信号数据流进行移位处理,得到第一子集和第二子集,所述第一子集包含基带信号的即时相位信息,所述第二子集为将所述基带信号数据流进行移位处理得到的最高位数据;

所述第一数据生成模块,用于生成第一查找表地址的第一子地址;

所述第二数据生成模块,用于将所述第二子集进行累加,得到与所述基带信号的累加相位信息相对应的累加结果;

所述数据获取模块,用于依据所述第一查找表地址的第一子地址和第一查找表地址的第二子地址构成的第一查找表地址,获取该地址对应的初始调制信号数据,所述第一查找表地址的第二子地址为所述第一子集所包含的数据;

所述第二数据处理模块,用于依据所述累加结果的控制,将接收到的调制信号数据转换成最终调制信号数据。

2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述第二数据处理模块,具体用于:

依据所述累加结果对应的累加相位信息,将接收到的调制信号数据进行角度旋转得到最终调制信号数据,所述累加相位信息为的整数倍。

3.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,还包括:

伪随机码生成模块,用于生成测试该GMSK调制装置的随机数据。

4.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,还包括:

差分编码器,用于对输入的数据流进行差分预编码。

5.一种GMSK调制方法,其特征在于,包括:

将接收基带信号数据流进行移位处理,得到第一子集和第二子集;所述第一子集包含所述基带信号的即时相位信息,所述第二子集为基带信号经移位处理后得到的最高位数据;

由第一数据生成模块生成第一查找表地址的第一子地址;

将所述第二子集进行累加,得到与所述基带信号的累加相位信息相对应的累加结果;

依据所述第一查找表地址的第一子地址和查找表地址第一查找表地址的第二子地址构成的第一查找表地址,获取该地址对应的初始调制信号数据,所述第一查找表地址为所述第一子集所包含的数据;

根据所述累加结果的控制,将接收到的调制信号数据转换成最终调制信号数据。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述根据所述累加结果的控制,将接收到的调制信号数据转换成最终调制信号数据,具体为:

依据所述累加结果对应的累加相位信息,将接收到的调制信号数据进行角度旋转得到最终调制信号数据,所述累加相位信息为的整数倍。

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,在接收基带信号数据流之前,还包括:生成对GMSK调制装置进行调试的伪随机码。

8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,还包括:对输入的数据流进行差分预编码处理。

9.一种GMSK调制装置,其特征在于,包括:第一数据处理模块、第一数据生成模块、第二数据生成模块、第一反相器、数据获取模块、第二反相器、第二数据处理模块;

所述第一数据处理模块,用于依据接收到的基带信号数据流,进行移位处理得到第一子集和第二子集,所述第一子集包含所述基带信号,所述第二子集为将所述基带信号数据流进行移位处理得到的最高位数据;

所述第一数据生成模块,用于生成第二查找表地址的第一子地址;

所述第二数据生成模块,用于将所述第二子集进行累加,得到与所述基带信号的累加相位信息相对应的累加结果;

所述第一反相器,用于在所述第一子集的最高位数据的控制作用下,对第一子集的低三位数据进行按位取反处理,得到第二查找表地址的第二子地址,并输送至所述数据获取模块;

所述数据获取模块,用于依据所述第二查找表地址的第一子地址和第二查找表地址的第二子地址构成的第二查找表地址,获取该地址对应的初始调制信号数据,所述初始调制信号数据包括I支路输出数据I′和Q支路输出数据Q′;

所述第二反相器,用于在所述第一子集的最高数据的控制作用下,对所述初始调制信号数据中的Q支路输出数据Q′进行取反处理,得到-Q′,并输送至所述第二数据处理模块;

所述第二数据处理模块,用于依据所述累加结果,将接收到的调制信号数据转换成最终调制信号数据。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广州市广晟微电子有限公司,未经广州市广晟微电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010153092.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top