[发明专利]截止波长测量方法以及光通信系统有效
申请号: | 201010139827.2 | 申请日: | 2010-03-30 |
公开(公告)号: | CN101854210A | 公开(公告)日: | 2010-10-06 |
发明(设计)人: | 中西哲也;平野正晃;佐佐木隆 | 申请(专利权)人: | 住友电气工业株式会社 |
主分类号: | H04B10/08 | 分类号: | H04B10/08;G01M11/00;G01M11/08 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 陈源;张天舒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 截止 波长 测量方法 以及 光通信 系统 | ||
技术领域
本发明涉及用于测量光纤的高阶模截止波长的方法以及使用该方法的光通信系统。
背景技术
在光通信系统中用作光传输路径的光纤在信号光波长处具有单模(或者高阶模截止波长比信号光波长短)是很重要的。IEC60793-1-44(JIS C 6825)说明了弯曲参考技术(60793-1-IEC:2001第27页)以及多模参考技术(60793-1-IEC:2001第27页)作为用于测量光纤的高阶模截止波长的方法。然而,利用弯曲参考技术或者多模参考技术,有可能难于测量下列光纤的截止波长:在高阶模中具有低弯曲损耗的光纤(参见Fujikura Giho,第105期,第6-10页(2003)M.Ikeda等人);
具有彼此接近的多个高阶模截止波长的光纤;以及
具有与OH感应损耗波长接近的截止波长的光纤。
发明内容
本发明的一个目的在于提供一种用于容易地测量光纤的高阶模截止波长的方法,而对于该光纤难于利用弯曲参考技术或者多模参考技术测量其截止波长。
为了实现上述目的,将提供一种用于测量光纤的高阶模截止波长的方法。根据本发明的一个方面的方法包括:(1)第一步骤,将多模光纤连接到将要测量其高阶模截止波长的待测光纤(样本)的第一端,允许光从该多模光纤传播到该样本,在光传播通过该样本之后测量从该样本的第二端射出的光的强度,并且基于所测量的光的强度来确定第一功率谱;(2)第二步骤,将该多模光纤连接到参考光纤的第一端,其中在预定的波长范围中该参考光纤具有比该样本的弯曲损耗更高的弯曲损耗,允许光从该多模光纤传播到该参考光纤,在光传播通过该参考光纤之后测量从该参考光纤的第二端射出的光的强度,并且基于所测量的光的强度来确定第二功率谱;(3)第三步骤,通过从该第一功率谱中减去该第二功率谱来确定差异谱;以及(4)第四步骤,基于该差异谱的形状确定该样本的高阶模截止波长。
上述预定的波长范围是一个包含被期望成为该样本的截止波长的波长并且具有超过200nm跨度的波长范围。跨度优选地超过300nm而不大于800nm。例如,上述预定的波长范围是在其中确定第一功率谱或者第二功率谱的波长范围。
在上述方法中,第四步骤可以包括:(4-1)第一子步骤,确定特定范围,在该特定范围中,与差异谱的最小值之间的差小于0.1dB并且差异谱的导数基本上为0;(42)第二子步骤,确定该特定范围中的差异谱的平均值;以及(4-3)第三子步骤,在示出差异谱的图中画出表示比该平均值大0.1dB的值的直线,确定在差异谱与该直线的交点处的波长,并且当波长短于交点处波长的较短波长侧上的差异谱的值大于波长长于交点处波长的较长波长侧上的差异谱的值时,将该交点处的波长确定为该样本的高阶模截止波长。
在第二步骤中,优选地将参考光纤的长度、弯曲直径或者匝数设置成在波长比参考光纤的截止波长更长的较长波长侧上使得第一功率谱大于第二功率谱。在预定的波长范围中,样本与参考光纤之间的模场直径的差异优选地为0.5μm或者更小。在第一步骤中,优选地确定置于实际系统的条件下的样本的第一功率谱。
根据本发明的另一方面的光通信系统包括使用上述方法测量其高阶模截止波长的待测光纤用来作为光传输路径。在该光通信系统中,将波长比所测量的截止波长更长的信号光通过该待测光纤进行传输。
本发明使得能够容易地测量光纤的高阶模截止波长,而对于该光纤难于利用弯曲参考技术或者多模参考技术测量其截止波长。
附图说明
图1A到图1D是示出了使用弯曲参考技术的截止波长测量方法的示意图。
图2A到图2D是示出了使用多模参考技术的截止波长测量方法的示意图。
图3A到图3D是示出了根据本发明的实施例的截止波长测量方法的示意图。
图4A到图4C是用于解释根据本发明的实施例的截止波长测量方法的细节的图示。
图5是示出了与三种测量方法中的每一种方法对应的第一功率谱S1以及第二功率谱S2的图示。
图6是示出了通过三种测量方法中的每一种方法确定的差异谱(S1-S2)的图示。
图7A是示出了通过弯曲参考技术确定的第一功率谱S1以及第二功率谱S2的图示。图7B是示出了对应的差异谱(S1-S2)的图示。
图8A是示出了通过多模参考技术确定的第一功率谱S1以及第二功率谱S2的图示。图8B是示出了对应的差异谱(S1-S2)的图示。
图9A是示出了通过多模参考技术确定的第一功率谱S1以及第二功率谱S2的图示。图9B是示出了对应的差异谱(S1-S2)的图示。
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