[发明专利]截止波长测量方法以及光通信系统有效

专利信息
申请号: 201010139827.2 申请日: 2010-03-30
公开(公告)号: CN101854210A 公开(公告)日: 2010-10-06
发明(设计)人: 中西哲也;平野正晃;佐佐木隆 申请(专利权)人: 住友电气工业株式会社
主分类号: H04B10/08 分类号: H04B10/08;G01M11/00;G01M11/08
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 陈源;张天舒
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 截止 波长 测量方法 以及 光通信 系统
【权利要求书】:

1.一种用于测量光纤的高阶模截止波长的方法,包括:

第一步骤,将多模光纤连接到将要测量其高阶模截止波长的待测光纤的第一端,允许光从该多模光纤传播到该待测光纤,在光传播通过该待测光纤之后测量从该待测光纤的第二端射出的光的强度,并且基于所测量的光的强度确定第一功率谱;

第二步骤,将该多模光纤连接到参考光纤的第一端,其中在预定的波长范围中该参考光纤具有比该待测光纤的弯曲损耗更高的弯曲损耗,允许光从该多模光纤传播到该参考光纤,在光传播通过该参考光纤之后测量从该参考光纤的第二端射出的光的强度,并且基于所测量的光的强度确定第二功率谱;

第三步骤,通过从该第一功率谱中减去该第二功率谱来确定差异谱;以及

第四步骤,基于该差异谱的形状确定该待测光纤的高阶模截止波长。

2.根据权利要求1所述的方法,其中第四步骤包括:

第一子步骤,确定特定范围,在该特定范围中,与差异谱的最小值之间的差小于0.1dB并且差异谱的导数实际上为0;

第二子步骤,确定该特定范围中的差异谱的平均值;以及

第三子步骤,在示出差异谱的图中画出表示比该平均值大0.1dB的值的直线,确定在差异谱与该直线的交点处的波长,并且当在较短波长侧上的差异谱的值大于在较长波长侧上的差异谱的值时,将该交点处的波长确定为待测光纤的高阶模截止波长,其中较短波长侧的波长比该交点处的波长更短,而较长波长侧的波长比该交点处的波长更长。

3.根据权利要求1所述的方法,其中在第二步骤中,将参考光纤的长度、弯曲直径或者匝数设置成在波长比参考光纤的截止波长更长的较长波长侧上使得第一功率谱大于第二功率谱。

4.根据权利要求1所述的方法,其中在预定的波长范围中,待测光纤与参考光纤之间的模场直径的差为0.5μm或者更小。

5.根据权利要求1所述的方法,其中在第一步骤中,确定被置于实际系统的条件下的待测光纤的第一功率谱。

6.一种光通信系统,包括一种待测光纤来作为光传输路径,其中使用根据权利要求5的方法测量该待测光纤的高阶模截止波长,

其中将波长比所测量的截止波长更长的信号光通过该待测光纤进行传输。

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