[发明专利]一种线束完整性的测试方法

权利要求书

1.一种线束完整性的测试方法，该线束包括至少两条导线，其中的第一导线的第二端和第二导线的第二端任意地分别连接于连接件的第一连接孔以及第二连接孔，该方法包括以下步骤：

A.将一终端负载电连接于线束中的两条导线中的第一导线的第一端和第二导线的第一端之间；

B.测量所述第一连接孔与第二连接孔的输入电阻值；

C.比较所测得的电阻值与所述终端负载的等效电阻值以确定所述两条导线的完整性。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述终端负载为纯电阻网络。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述终端负载为一由至少一个元器件连接形成的网络，所述至少一个元件包括至少一个单向导通元件，所述至少一个元件的连接使所述网络在两个方向上呈现不同电阻值。

4.根据权利要求2所述的方法，其中，所述纯电阻网络为一电阻。

5.根据权利要求2或4所述的方法，其中，步骤C包括：如果所述测得的电阻值大于所述终端负载的所述等效电阻值，且两者之差小于一预定阈值，则所述两条导线的导通性良好。

6.根据权利要求5所述的方法，其中，所述终端负载的所述等效电阻值为22k欧姆，所述预定阈值为10欧姆。

7.根据权利要求3所述的方法，其中，所述至少一个元件还包括至少一个电阻。

8.根据权利要求7所述的方法，其中，所述网络为由所述至少一个电阻形成的纯电阻网络与所述至少一个单向导通元件形成的单向导通装置并联连接形成的网络。

9.根据权利要求8所述的方法，其中，所述纯电阻网络为一电阻，所述单向导通装置为二极管。

10.根据权利要求9中所述的方法，其中，所述步骤A包括：将所述终端负载电连接于所述第一导线的第一端和所述第二导线的第一端之间，使所述二极管的导通方向为从所述第一导线的第一端至所述第二导线的第一端；

所述步骤B包括：以第一连接孔作为输入，以第二连接孔作为输出，测量第一连接孔与第二连接孔之间的输入电阻值；

所述步骤C包括：

如果所述测得的输入电阻值与所述二极管的导通电阻值之差小于一预定阈值，则确定：所述第一导线的第二端连接于所述第一连接孔，以及第二导线的第二端连接于所述第二连接孔；如果所述测得的输入电阻值与所述电阻的阻值之差小于一预定阈值，则确定：所述第一导线的第二端连接于所述第二连接孔，以及第二导线的第二端连接于所述第一连接孔。

11.根据权利要求10所述的方法，其中，所述电阻的电阻值为100k欧姆，所述预定阈值为20欧姆。